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半导体材料研究和器件测试通常要测量样本的电阻率和霍尔电压。半导体材料的电阻率主要取决于体掺杂，在器件中，电阻率会影响电容、串联电阻和阈值电压。霍尔电压测量用来推导半导体类型(n还是p)、自由载流子密度和迁移率。为确定半导体范德堡法电阻率和霍尔电压，进行电气测量时需要一个电流源和一个电压表。为自动进行测量，一般会使用一个可编程开关，把电流源和电压表切换到样本的所有侧。A-SCS参数分析仪拥有4个源测量单元(SMUs)和4个前置放大器(用于高电阻测量)，可以自动进行这些测量，而不需可编程开关。USBCAN-8E-U可以8个CAN口同时独立工作，且可在配置完成后脱离PC独立工作，从而大大降低电脑的开销。USBCAN-8E-U4.总结致远电子USBCAN-E-U、USBCAN-2E-U、USBCAN-4E-U、USBCAN-8E-U均支持底层计时，USBCAN-8E-U更是拥有多达8路独立CAN通信接口，因此特别适合于大数量、分布式的CAN设备老化测试。丰富的接口及函数库资源可快速用于产品可发及测试，隔离模块绝缘电压DC2500V，静电等级接触放电达±8KV，极大程度提高了CAN接口卡工作安全系数，保证测试安全。
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