回收IC电子上门回收-回收拆机芯片
或元器件数不超过100个；
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A-器件使用材料的禁带宽度Eg=0.6~1.0eV 如锗、B-器件使用材料的Eg=1.0~1.3eV如硅、C-器件使用材料的Eg>1.3eV 如砷化镓、D-器件使用材料的Eg<0.6eV如锑化铟、E-器件使用复合材料及光电池使用的材料 第二部分：用字母表示器件的类型及主要特征。
一.回收手机料：收购、回收手机芯片、回收手机ic、回收手机内存、回收手机字库、收购手机内存卡、回收手机主板、回收手机线路板、回收手机cpu、回收手机等电子料
二.回收内存：收购，回收内存芯片、回收内存条、回收内存卡、回收内存字库、回收FLASH闪存、回收SDRAM、回收DRAM、回收SRAM、回收DDR、回收Memory、回收DDR、回收DDR、回收DDR3、回收GDDR、回收SDRAM，原装-新旧-折机-带板FLASH,DDR,GDDR/带板DDR颗粒：K4T/K4B/H5PS/H5TQ/NT5/EDJ/EDE/K9开头等，SRAM、DDR、GDDR,GDDR2,GDDR3,SDRAM、Memory、内存条等存储器，回收三星、现代、镁光、东芝、ST品牌FLASH闪存。
三.回收卡类：收购，回收TF卡，回收CF卡,回收MMC卡，回收SD卡,回收SSD卡,回收记忆棒,回收固态硬盘,回收RS卡,回收R4卡,回收M2卡,回收XD卡，回收好坏U盘，MP3/MP4/MP5/SSD卡。
10kW 挡；测量容量大、耐压低的电解电容，量程应位于R&TImes; 1 k W 挡。观察充电电流的大小、放电时间长短（表针退回的速度）及表针后指示的阻值。 电解电容器质量好坏的鉴别方法如下： ①充电电流大，表针上升速度快，放电时间长，表针的退回速度慢，说明容量足。
四.回收主板：收购，回收平板电脑主板，回收手机主板，回收电子书主板，回收笔记本主板，回收数码相框主板，回收游戏机主板，回收SSD固态硬盘，回收内存条，回收CPU。
电容器的失效机理与产品的类型、材料的种类、结构的差异、制造工艺及环境条件、工作应力等诸因素等有密切关系。 电容器出现击穿故障非常容易发现，但对于有多个元件并联的情况，要确定具体的故障元件却较为困难。
五.回收3G模块：收购，回收WiFi模块，回收WCDMA模块,回收CDMA模块，回收模块，回收3G通话模块，MTK/高通/三星/手机套片、手机EMMC，MCP，SLC，MLC，TLC等
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有些电容用“R”表示小数点，
这是因为一般电路的二、三极管外围电阻大多在几百、几千欧以上，用万用表低阻值档在路测量，可以基本忽略外围电阻对PN结电阻的影响。4.集成电路损坏的特点 集成电路内部结构复杂，功能很多，任何一部分损坏都无法正常工作。