领存科研版闪存测试仪NFA100-E适合于企业闪存控制开发人员、高校教授及硕士、博士进行闪存研究、以及各种特殊单位进行闪存的安全性、可靠性研究的研发人员使用。企业、高校研究版本NFA100-E，zui多测试4片闪存芯片。NFA100-E是一套功能强大且极具灵活性的NandFlash分析系统，它zui大限度地满足用户的对于NandFlash的信息分析需求以及对这些信息的再处理需求,用户还可以通过API和脚本（Script）来扩展任何自定义的测试或分析功能。
NFA100-E 闪存测试仪
NFA100-E是一套功能强大且极具灵活性的NandFlash分析系统，它zui大限度地满足用户的对于NandFlash的信息分析需求以及对这些信息的再处理需求,用户还可以通过API和脚本（Script）来扩展任何自定义的测试或分析功能。
面向对象
NFA100-E主要面向：企业闪存控制开发人员、高校教授及硕士、博士进行闪存研究、以及各种特殊单位进行闪存的安全性、可靠性研究的研发人员。
技术指标
1、支持zui新制程3DNand Flash，1x nm以及25nm，34nm，56nm制程Nand Flash；
2、支持SLC，MLC，TLC，eMLC；
3、支持8位和16位异步Flash；
4、支持同步，ToggleFlash；
5、支持Micron、Toshiba、Samsung、Intel、Sandisk，Hynix厂商所有常规NandFlash；
6、支持TSOP48，BGA63，BGA100，BGA132，BGA152封装；
7、可以定制开发非常规封装、自定义封装NandFlash。
性能指标
1、通过USB2.0接口测试设备内部连接工控电脑，计算由测试主板FPGA完成，对工控电脑资源消耗极低，USB2.0仅仅是将计算结果反馈给软件，不会对性能产生任何影响；
2、测试效率主要取决于所需要测试NandFlash的接口性能以及所需测试项目的内容，如：测试P/Ecycle，所需时间完全取决于测试Block数量、测试pattern，及Nand Flash接口的性能。
特殊用途
1、测试客户自主开发的BCHECC或者LDPC强度；
2、测试ReadRetry
3、对NandFlash进行电压拉偏测试；
4、对NandFlash进行物理烧毁测试；
基本配置
1、显示屏：12.1″TFT LED 电阻式触摸屏；
2、芯片组：Intel® Bay-trail J1900 2.0GHz；
3、内存：2GB
4、存储：32GB ReniceSSD；
5、操作系统：Windows7
6、I/O 接口：3个USB2.0,1个USB3.0；4个 RS232; 1个RJ45 千兆网口； 1个显示接口；
7、重量：20公斤
NFA100提供了两种不同级别的用户开发平台
1.API
通过API,各种对NANDFlash的操作及设定,用户都可以通过调用NFA100提供的库程序在自己的软件中方便的实现自己需要的功能。
2.脚本（script）
NFA100提供了一套自己的编程语言，用户可以在NFA100的环境（界面）下执行自定义的script。
