大量收购 日置 【IM3570】阻抗分析仪【IM3590】

日本日置阻抗分析仪 IM3570

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日本日置阻抗分析仪IM3570特点

★ 1台仪器实现LCR测量、DCR测量、扫描测量等的连续测量和高速检查

★ LCR模式下樶快1.5ms（1kHz），0.5ms（100kHz）的高速测量

★ 基本精度±0.08%的高精度测量

★ 适用于压电元件的共振特性检查、功能性高分子电容的C-D和低ESR测量，电感器（线圈、变压器）的DCR和L-Q的测量

★ 分析仪模式下可进行扫频测量、电平扫描测量、时间间隔测量

★ 可以用于无线充电评价系统TS2400

日本日置阻抗分析仪IM3570选型指南

测量模式 LCR（LCR测量），分析仪（扫描测量），连续测量 

测量参数Z、Y、θ、Rs（ESR）、Rp、Rdc（直流电阻）、X、G、B、Cs、Cp、Ls、Lp、D（tanδ）、Q 

测量量程 100mΩ~100MΩ，12档量程（所有参数由Z确定） 

显示范围Z、Y、Rs、Rp、Rdc、X、G、B、Ls、Lp、Cs、Cp：±（0.000000[单位]~9.999999G[单位]，仅Z和Y显示絕對值θ：±（0.000°~999.999°），D：±（0.000000~9.999999）Q：±（0.00~99999.99），△%：±（0.0000%~999.9999%） 

基本精度 Z：±0.08%rdg. θ：±0.05° 

测量频率 4Hz~5MHz（10mHz~100Hz步进） 

测量信号电平V模式，CV模式（普通模式）50mV~1Vrms，1mVrms步进（1MHz以下）10mV~1Vrms，1mVrms步进（1.0001MHz以上）CC模式（普通模式）10μA~50mArms，10μA rms步进（1MHz以下）10μA~10mA rms，10μArms步进（1.0001MHz以上） 

输出阻抗 普通模式：100Ω，低阻抗高精度模式：10Ω 

显示 彩色TFT5.7英寸，可设置显示ON/OFF 

测量时间 0.5ms（100kHz，FAST，显示OFF，代表值） 

测量速度 FAST/MED/SLOW/SLOW2 

其他功能 DC偏压测量，比较功能，面板读取和保存，存储功能 

接口 EXT I/O，RS-232C，GP-IB，USB通讯，U盘，LAN 

电源 AC90~264V，50/60Hz，樶大150VA 

打印 拷贝测量值或屏幕显示的要点（需用9442，9593-01和9446） 

接口 GP-IB，RS-232C，EXT.I/O(所有标准) 

体积和重量 330W×119H×307Dmm，5.8kg 

附件 电源线×1，使用说明书×1，通讯手册×1