按键寿命测试检验产品的使用寿命及长期按键对周围器件的影响。按键寿命测试使用手机、MP3、电脑、电子词典按键、摇控器按键、硅橡胶按键、硅胶制品等产品，测试能力主要范围是适用于检测按键开关、轻触开关、薄膜开关等各类按键进行寿命测试。
1.测试目的：
制定规范的操作指引，提供试验人员进行按鍵寿命试验；
模拟用户日常使用电话的情形，试验在不同部位的按鍵寿命情況。
2.范测试围：
适用于所有电话机成品(除客户特殊要求外)以及物料。
3.参考文件：
W Reliability Test Items for North American Vtech andAT&T Brand Products. W Reliability Test Items forVtech Europe Products.
4.定义：
无。
5.责任：
试验申请者提供试验功能正常的样品，并填写试验申请单；
实验室负责人负责完成所有的可靠性测试，并以E-Mail形式将试验结果通知ProjectLeader和申请者，试验完毕后发出的正式的报告，并将样品退还申请人；
对于Failure的项目，实验室负责人要在當天内通知相关负责人员，并协助分析Fail的原因；
相关部门在必要时提供改善行动，并且送改善后的Sample到实验室，重做测试，以确认改善行动是否有效。
6.程序
冲头的调校及安装(按鍵寿命测试)；
逐一调校冲头上的弹簧行程，用弹力计测量,使之符合按压距离 3.0±0.2mm时压力为450~600g；
将调校好的冲头正确地安装在冲压机上；
做按鍵寿命试验，VTECH标准要求如下：
机械寿命次数
试验过程中需每一万次停下来检查一次，如有问题需详细记录。
7.试验要求
试验中和试验后按鍵功能正常；
试验中和试验后按鍵有任何的机械损坏都是不可以接受的。