深圳粉末、微粒纳米样品形态和粒度的测定
介绍了一种测定纳米晶粒尺寸分布的新方法———X射线衍射谱峰形拟合法，阐述了其理论模型和基本假设，应用它对化学法制备的纳米SnO2的晶粒分布进行了分析，得出较理想的结果，并对此法进行了技术评估．
粒度分析又称"机械分析。是研究碎屑沉积物(或岩石)中各种粒度的百分含量及粒度分布的一种方法。对易于分解离开的碎屑沉积，通常采用筛析法和沉速法;对固结较紧且又不易解离的碎屑沉积，通常采用薄片鉴定法;对粗大的砾石通常采用直接测量法。根据分析结果，可推测沉积物的形成条件和环境。对于不同原理的粒度分析仪器，所依据的测量原理不同，其颗粒特性也不相同，只能进行等效对比，不能进行横向直接对比。
1.显微镜法(Microscopy)
SEM、TEM；1nm～5μm范围。
适合纳米材料的粒度大小和形貌分析。
2.沉降法(Sedimentation SizeAnalysis)
沉降法的原理是基于颗粒在悬浮体系时，颗粒本身重力(或所受离心力)、所受浮力和黏滞阻力三者平衡，并且黏滞力服从斯托克斯定律来实施测定的，此时颗粒在悬浮体系中以恒定速度沉降，且沉降速度与粒度大小的平方成正比。10nm～20μm的颗粒。
3.光散射法(Light Scattering)
激光衍射式粒度仪仅对粒度在5μm以上的样品分析较准确，而动态光散射粒度仪则对粒度在5μm以下的纳米样品分析准确。
激光光散射法可以测量20nm－3500μm的粒度分布，获得的是等效球体积分布，测量准确，速度快，代表性强，重复性好，适合混合物料的测量。
利用光子相干光谱方法可以测量1nm－3000nm范围的粒度分布，特别适合超细纳米材料的粒度分析研究。测量体积分布，准确性高，测量速度快，动态范围宽，可以研究分散体系的稳定性。其缺点是不适用于粒度分布宽的样品测定。
