EXFO WA-1150光波长计Burleigh WA-1150波长计
WA-1150波长计光波长计提供zui***的波长测量，同步功率测量，专为在制造环境中表征WDM组件而设计。
这些系统采用Burleigh经过验证的扫描迈克尔逊干涉仪波长计技术，通过比较其干涉条纹图案与内置HeNe激光波长标准的干涉条纹图案来确定测试激光的波长。与其他波长计不同，所有可能影响波长测量的因素都考虑在内，以便使用WA-1150实现±1ppm的zui高波长精度。
为了提供更***WDM组件分析，这些Wavemeter同时测量光输入信号的总功率。此外，漂移功能可根据时间自动监控波长或功率的任何变化。显示当前值及其与测量起始点的偏差，以提供测试激光的实时状态。还报告了值和***小值，以给出测量期间达到的极限。
在这些系统中已经结合了几种针对WDM组件制造商需求的设计考虑因素。通过内置的HeNe激光波长标准，系统的精度可以长时间保持，无需校准。测量周期时间短至0.1秒，提高了波长表征的效率。***的台式或机架式封装可限度地减少典型制造环境中的任何不利影响
