AEC先后为集成电路、分立器件、光电器件、多芯片组件、传感器和无源元件等关键的电子元器件制定了：
AEC元器件产品咨询标准
（1）AEC-Q100《基于失效机理的汽车用集成电路应力试验鉴定要求》
AEC-Q100规定了汽车用集成电路zui低应力测试要求的定义和参考测试条件，是预防可能发生各种状况或潜在的故障状态，对每一个器件进行严格的质量与可靠性确认，特别对产品功能与性能进行标准化测试，目的是要确定一种集成电路在应用中能够通过应力测试以及被认为能够提供某种级别的品质和可靠性。一部汽车元器件使用位置的不同，其基本温度要求也不同，相应的测试温度条件也不一样。汽车电子产品供应商必须先了解终端客户如何使用此产品及其在车内的安装位置，以实际应用的温度范围来确定。如AEC-Q100标准中规定了集成电路的4个环境工作温度范围等级，如等级0为-40℃～+150℃，等级3为-40℃～+85℃。
（2）AEC-Q101《基于失效机理的汽车用分立器件应力试验鉴定要求》
AEC-Q101规定了汽车用半导体分立器件（晶体管、二极管及三极管等）zui低应力测试要求的定义和参考测试条件，目的是要确定一种集成电路在应用中能够通过应力测试以及被认为能够提供某种级别的品质和可靠性。标准规定了半导体分立器件的zui低环境工作温度范围为-40℃～+125℃,LED的zui低环境工作温度范围为-40℃～+85℃。
（3）AEC-Q102《基于失效机理的汽车用半导体光电器件应力试验鉴定要求》.
AEC在2017年3月正式发表了AEC-Q102标准。该标准规定了汽车用半导体光电器件zui低应力测试要求的定义和参考测试条件，相对于早期的AEC-Q101标准更加全面且更贴近光电器件的特性及使用环境，每项试验均是针对车用半导体光电器件所可能遭遇的环境来设计,增加了如硫化氢试验(H2S)、混气腐蚀实验(FMGC)、脉冲工作寿命(PLT)等测试项目，更能保障器件的可靠性要求。
（4）AEC-Q103《基于失效机理的汽车用传感器应力试验鉴定要求》
AEC-Q103规定了汽车用传感器zui低应力测试要求的定义和参考测试条件，之前汽车用传感器做车规咨询一直是引用AEC-Q100，而AEC-Q103标准更针对为汽车用传感器的特性及使用环境。标准中与AEC-Q100相同，均是规定了传感器的4个环境工作温度范围等级，如等级0为-40℃～+150℃，等级3为-40℃～+85℃。
（5）AEC-Q104《基于失效机理的汽车用多芯片组件(MCM)应力试验鉴定要求》
AEC-Q104规定了汽车用多芯片组件zui低应力测试要求的定义和参考测试条件。AEC-Q104的主要原则，就是在MCM上使用的所有组件，包括电阻、电容、电感等被动组件、半导体分立器件以及集成电路在组合装板前，若先通过了AEC-Q100、AEC-Q101或AEC-Q200等规范考核，则MCM产品只需进行AEC-Q104内的7项的测试，若MCM上的组件未先通过或没进行AEC-Q100、AEC-Q101与AEC-Q200等规范的考核，则必须依据产品应用，按AEC-Q104标准中规定的8个组（A~H）共49个项目进行考核。AEC-Q104还规定了试验的顺序，导致验证通过的难度变高。例如，必须先进行HighTemp OperatingLife(HTOL)，才能做 Thermal Shock(TS)，顺序颠倒过来就不行。
（6）AEC-Q200《基于失效机理的汽车用无源元件应力试验鉴定要求》
AEC-Q200规定了汽车用无源器件（电阻、电容、电感）zui低应力测试要求的定义和参考测试条件，目的是要确定一种无源器件在应用中能够通过应力测试以及被认为能够提供某种级别的品质和可靠性。但AEC-Q200的环境工作温度范围等级与AEC-Q100存在明显的不同，依旧是划分为5个等级，等级0的温度范围为-50℃～+150℃，而等级4为0℃～70℃。