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LVDS物理层信号完整性测试、高速LVDS接口信号完整性测试

更新:2024-05-03 08:00 发布者IP:27.38.208.163 浏览:5次
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LVDS信号完整性测试、高速LVDS接口信号完整性测试测试
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产品详细介绍


LVDS即低电压差分信号,是一种低功耗、低误码率、低串扰和低辐射的差分信号技术,这种传输技术可以达到155Mbps以上,英文全称LowVoltage Differential Signaling;LVDS接口又称RS-644总线接口,是20世纪90年代才提出的一种数据传输和接口技术。

LVDS技术的核心是采用极低的电压摆幅高速差动传输数据,可以实现点对点或一点对多点的连接,其传输介质可以是铜质的PCB连线,也可以是平衡电缆。

LVDS由于其低功耗,带宽可扩展等特点,被广泛的采用在移动电子设备上,屏幕和摄像头支持的分辨率越来越高,信号速率越来越快,电路板越来越小,信号探测难度越来越大。


一、LVDS技术及LVDS技术的特点

LVDS接口是美国国家半导体公司(NS)为克服以TTL电平方式传输宽带高码率数据时功耗大,电磁干扰大等缺点而研制的一种数字视频信号传输方式。由于其采用低压和低电流驱动方式,因此,实现了低噪声和低功耗。

具体归纳为:

LVDS接口高速传输能力

LVDS接口低噪声

LVDS接口低功耗

LVDS接口抗干扰能力强

LVDS接口可扩展

LVDS接口应用广泛

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图1.1 LVDS接口原理

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图1.2  LVDS类型

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图1.3  LVDS耦合和端接方式

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图1.4  Mini-LVDS

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图1.5  M-LVDS

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图1.6  Clock VS Data


二、LVDS信号完整性测试案例

点位:从左往右Lane4-lane3-lane2-clk-lane1):

5.1.png

图2.1 LVDS测试样品及探棒测试连接

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图2.2 LVDS测试环境

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图2.3 测试眼图

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图2.4 测试波形


所属分类:中国商务服务网 / 检测认证
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成立日期2016年09月29日
法定代表人卿启辉
注册资本200
主营产品环境可靠性及失效分析、眼图测试、SI信号完整性测试、信号一致性验证、成分分析RT-IR/EDS、DSC、TGA、DMA、TMA;材料失效分析:声学扫描分析(C-SAM)、金相切片、X射线透射分析(X-ray)、
经营范围信号完整性测试、移动产品检验检测、验证、材料性能检测及失效分析、材料热分析、成分分析、配方分析、无损检测
公司简介启威测实验室成立于2016年,位于中国科技创新的前沿阵地——深圳,是一家专业的民营第三方检测实验室。自成立以来,我们一直致力于为电子产品及通讯产品行业提供全面的测试验证和分析服务。凭借卓越的服务质量和专业技术实力,已经获得CNAS(中国合格评定国家认可委员会)和CMA(中国计量认证)的认证,这不仅标志着我们的专业地位,也是对我们服务质量和技术能力的国家级认可。我们的服务启威测实验室专注于电子产品及 ...
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