LVDS物理层信号完整性测试、高速LVDS接口信号完整性测试

LVDS即低电压差分信号，是一种低功耗、低误码率、低串扰和低辐射的差分信号技术，这种传输技术可以达到155Mbps以上，英文全称LowVoltage Differential Signaling;LVDS接口又称RS-644总线接口，是20世纪90年代才提出的一种数据传输和接口技术。

LVDS技术的核心是采用极低的电压摆幅高速差动传输数据，可以实现点对点或一点对多点的连接，其传输介质可以是铜质的PCB连线，也可以是平衡电缆。

LVDS由于其低功耗，带宽可扩展等特点，被广泛的采用在移动电子设备上，屏幕和摄像头支持的分辨率越来越高，信号速率越来越快，电路板越来越小，信号探测难度越来越大。

一、LVDS技术及LVDS技术的特点

LVDS接口是美国国家半导体公司（NS)为克服以TTL电平方式传输宽带高码率数据时功耗大，电磁干扰大等缺点而研制的一种数字视频信号传输方式。由于其采用低压和低电流驱动方式，实现了低噪声和低功耗。

具体归纳为：

LVDS接口高速传输能力

LVDS接口低噪声

LVDS接口低功耗

LVDS接口抗干扰能力强

LVDS接口可扩展

LVDS接口应用广泛

图1.1 LVDS接口原理

图1.2  LVDS类型

图1.3  LVDS耦合和端接方式

图1.4  Mini-LVDS

图1.5  M-LVDS

图1.6  Clock VS Data

二、LVDS信号完整性测试案例

点位：从左往右Lane4-lane3-lane2-clk-lane1):

图2.1 LVDS测试样品及探棒测试连接

图2.2 LVDS测试环境

图2.3 测试眼图

图2.4 测试波形