透射电子显微镜(英语：Transmissionelectronmicroscope，缩写TEM)，简称透射电镜，是把经加速和聚集的电子束投射到非常薄的样品上，电子与样品中的原子碰撞而改变方向，从而产生立体角散射。散射角的大小与样品的密度、厚度相关，可以形成明暗不同的影像。通常，透射电子显微镜的分辨率为0.1～0.2nm，放大倍数为几万～百万倍，用于观察超微结构，即小于0.2微米、光学显微镜下无法看清的结构，又称“亚显微结构”。
材料透射电镜
主要检测对象为金属、矿物、半导体、超导体、无机化合物等固体纳米材料。
检测内容包括：
样品的形貌，晶体结构及元素组成，含质厚衬度像、明场衍射衬像、暗场衍射衬像、晶体条纹像、电子衍射图像、能谱等。
主要应用领域：
物理学、化学、生物学、材料科学、矿物学、地质、选矿、冶金工程等领域
生物电镜
1.样品包埋：送检后标本需经过四氧化锇后固定、脱水、树脂半浸透、树脂全浸透及树脂包埋后高温聚合。
2.超薄切：聚合后的组织树脂包埋块须在莱卡EM UC7超薄切片机下定位后，切下50-70nm薄片，随后用铜网捞片。
3.铅铀染色：制作好的样品铜片经醋酸铀染色10min，后硝酸铅再染色10min，即可阅片
4.拍照分析：按照客户拍照目的及拍照要求进行分析。
