2017年3月28日，国际电工委员会（IEC）发布两个电子电电器产品中有害物质测试标准：IEC 62321-7-2：2017通过比色法测定聚合物和电子材料中的六价铬和IEC 62321-8：2017通过GC-MS或Py/TD-GC–MS测定聚合物中的邻苯二甲酸酯。
IEC 62321是国际电工委员会(IEC)制定的关于电子电气产品中限用有害物质的测试方法。IEC 62321:2008六种管控物质（铅，汞，镉，六价铬，多溴联苯，多溴联苯醚）的测定，其中包括了，定义，测试方法总述，机械制样，XRF扫描方法以及各物质的具体测试方法。2013年5月17日开始，IEC发布新的方法，将IEC62321: 2008拆分为一系列标准，导入了新的测试方法或仪器。
本次更新的 IEC 62321-7-2通过比色法测定聚合物和电子材料中的六价铬中，采用有机溶剂代替热水提取法从样品中提取六价铬。IEC62321-8通过GC-MS或Py/TD-GC–MS测定聚合物中的邻苯二甲酸酯新增了针对7项邻苯的两种测试方法。
2018年，IEC 将更新其它三项标准：IEC 62321-3-2 2.0使用C-IC对聚合物和电子产品中的氟、溴、氯进行筛选；IEC 62321-3-3 1.0使用PY-GC-MS、TD-GC-MS对聚合物中的多溴联苯、多溴二苯醚 、特定邻苯二甲酸盐进行筛选以及IEC 62321-10 1.0通过GC-MS测定聚合物和电子材料中的多环芳烃。
目前所有已更新的IEC 62321标准及其变化如下：
| 编号 | 名称 | 主要变化 |
| IEC 62321-1 | 简介和概述 | 基本一致 |
| IEC 62321-2 | 样品的拆卸、拆解和机械拆分 | 基本一致 |
| IEC 62321-3-1 | 电子产品中的铅、汞、镉、总铬和总溴的筛选 | 基本一致 |
| IEC 62321-3-2 | 使用C-IC对聚合物和电子产品中的总溴进行筛选 | 新增C-IC方法 |
| IEC 62321-4 | 使用CV-AAS、CV-AFS、ICP-OES和ICP-MS测定聚合物、金属和电子材料中的汞 | 新增热解析金汞齐化系统方法 |
| IEC 62321-5 | 使用AAS、AFS、ICP-OES和ICP-MS测定聚合物和电子材料中的汞、镉、铅和铬，以及金属中的镉和铅 | 总铬的测试要求，新增检测方法AFS |
| IEC 62321-6 | 使用GC-MS、IAMS和HPLC测定聚合物和电子材料中的多溴联苯和多溴二苯醚 | 新增检测方法AFS IAMS/HPLC |
| IEC 62321-7-1 | 通过比色法测定金属无色和有色防腐镀层中六价铬 | 对六价铬结果的阴性阳性判定基准改为小于0.1µg/cm2 |
| IEC 62321-7-2 | 通过比色法测定聚合物和电子材料中的六价铬 | 采用有机溶剂从样品中提取六价铬 |
| IEC 62321-8 | 通过GC-MS或Py/TD-GC–MS测定聚合物中的邻苯二甲酸酯 | 新增章节，针对7项邻苯提出两种测试方法 |
C-IC 燃烧离子色谱法
PY-GC-MS 热裂解气相色谱质谱联用仪
IAMS 离子附着质谱法
TD-GC-MS 热脱附气相色谱质谱联用仪
以上信息来源网络收集，如需了解更多详情请电联我。
