附加的功能：
50 GHz WDM 信号的宽动态范围：动态范围在峰值 ±0.4 nm 时为 70 dB，在峰值 ±0.2 nm 时为 60dB。
高分辨率测量通过 50 GHz 间隔 WDM 系统实现宽动态范围。
高波长精度：在 1520 至 1580 nm 处提供 ±0.02 nm 波长精度，在 1580 至 1620 nm 处提供±0.04 nm 波长精度，具有 ±0.01 nm 波长线性度，特别适用于 WDM 器件的高精度损耗波长特性和其他评估.
波长标度在空气和真空中都有指示。
高波长分辨率：实现 0.015 nm 的波长分辨率。
多种分析功能：WDM 和其他光学器件（LD、LED、FBG 等）的分析功能
同步扫描：与 AQ4321 可调谐激光源配合使用，可通过高速同步扫描实现更高的波长分辨率/宽动态范围
高灵敏度：高灵敏度允许测量低至 -90 dBm 的光，范围从 1200 到 1650 nm。
低偏振相关性：由于偏振相关性被抑制到±0.05 dB，因此可以地进行光放大器增益等测量。
高精度：精度在±0.3 dB以内。
高功率测量：大。+20 分贝（100 毫瓦）
即使是光放大器的高功率输出也可以直接测量，无需光衰减器。
9.4英寸彩色液晶屏
可测量脉冲光
三个单独的痕迹记忆
规格
适用光纤：SMF、GI (50/125 µm)
测量波长范围：600 至 1750 nm）
波长精度：±0.02 nm（1520 至 1580 nm，使用内置参考光源校准后）；±0.04 nm（1580 至 1620nm，使用内置参考光源校准后）；±0.5 纳米（600 至 1750 纳米）
波长线性度：±0.01 nm（1520 至 1580 nm）；±0.02 纳米（1580 至 1620 纳米）
波长重复性：±0.005 nm（1 分钟）
波长分辨率：。分辨率：0.015 nm 或更好（1520 至 1620 nm，分辨率设置：0.01 nm）
分辨率设置：0.01、0.02、0.05、0.1、0.2、0.5、1.0、2.0 nm
分辨率精度：±5%：（1300～1650nm，分辨率：0.05nm以上，分辨率修正：ON）
测量电平范围：-90 至 +20 dBm（1200 至 1650 nm，灵敏度：HIGH3）；-80 至 +20dBm（1000 至 1200 nm，灵敏度：HIGH3）；-60 至 +20 dBm（600 至 1000nm，灵敏度：HIGH3）
电平精度 2、3) ±0.3 dB（1310/1550 nm，输入：-30 dBm，灵敏度：HIGH1-3）
电平线性度：±0.05 dB（输入：+10 至 -50 dBm，灵敏度：HIGH1-3）
电平平坦度：±0.1 dB（1520 至 1580 nm）、±0.2 dB（1580 至 1620 nm）
偏振相关性：±0.05 dB (1550/1600 nm)，±0.05 dB 典型值。(1310 纳米)
动态范围：60 dB（1523 nm，峰值±0.2 nm，分辨率：0.01 nm）；70 dB（1523 nm，峰值 ±0.4nm，分辨率：0.01 nm）；45 dB（1523 nm，峰值 ±0.2 nm，分辨率：0.1 nm）
扫描时间：约。500 ms（跨度：100 nm 或更小，灵敏度：NORM，HOLD，平均：1，501个样本，分辨率校正：OFF）；大约。0.5 分钟（跨度：100 nm 或更小，灵敏度：HIGH2，平均：1，501个样本，无信号）
功能
自动测量：程序功能（20个程序，200步），长期测量功能
测量条件设置：跨度设置：0 至 1200 nm
测量灵敏度设置：NORMAL HOLD/AUTO、MID、HIGH1/2/3
平均设定次数：1～1000次
样品编号设置：11 到 20001，AUTO
测量条件自动设定功能
标记间扫描功能
0 nm 扫描功能
脉冲光测量功能
空气/真空波长测量功能
TLS同步测量功能
轨迹显示
电平刻度设置：0.1 至 10 dB/div，线性
同时显示 3 条独立轨迹
保持显示
滚动平均显示
迹线间计算显示
标准化显示
曲线拟合显示
3D显示
分屏显示
功率密度显示、%显示、dB/km显示
横轴刻度频率显示
数据分析
WDM波形分析（Wavelength/Level/SNR列表显示）、光纤放大器分析（GAIN/NF、单/多通道）、PMD分析、滤光片分析、DFB-LD分析、FP-LD分析、LED分析、SMSR分析,峰搜索, 谷底搜索, 谱宽搜索, 陷波宽度搜索
增量标记（多 200 个）、线标记（分析范围规范）
长期测量结果图表显示
其他
自波长校准功能（使用内置参考光源）
波长/电平补偿功能、标签功能、帮助功能
记忆
内置FDD：3.5英寸2HD
内部存储器：32 条轨迹，20 个程序
文件格式：轨迹文件、程序文件、测量条件文件、文本文件（轨迹、分析数据等）、图形文件（BMP、TIFF）
数据输出：打印机内置高速打印机
界面
遥控器：GP-IB（2个端口）；TLS 控制接口 (TTL)
扫描触发输入 (TTL)
采样使能输入 (TTL)
采样触发输入 (TTL)
模拟输出（0 至 5 V）
视频输出 (VGA)
显示屏：9.4 英寸彩色 LCD（分辨率：640 x 480 点）
光连接器：FC（标准）
电源要求：AC 100 至 120/200 至 240 V，50/60 Hz
环境条件
工作温度：5 至 40 ºC
储存温度：-10 至 +50 ºC
湿度：80 %RH 或更低（无冷凝）
尺寸和质量：约。425 (W) x 222 (H) x 450 (D) 毫米
AQ6317B 是一款先进的光谱分析仪，适用于广泛的应用，包括光源评估、光学器件中损耗波长特性的测量以及WDM（波分复用）系统的波形分析。
特别是在 C 波段和 L 波段，该单元实现了高波长精度和波长线性度，可以评估用于 WDM的光学器件。分析功能使操作和扩展性变得简单。
AQ6317B 包含用于光谱分析仪的新 Ando 技术。下一代的参考设备。
与以前的型号相比，AQ6317B 的波长精度提高到±20 pm，并且它也被指定为 L波段。改进WDM分析功能和陷波宽度分析功能，新增多通道NF分析功能和滤光片分析功能。与其他改进一起使用变得更加容易，例如扫描加速。