产品设计成型后，必须对产品进行可靠性试验，产品可靠性试验是激发潜在失效模式，提出改进措施，确定项目或系统是否满足预先制定的可靠性要求的必须步骤。可靠性试验的基本原理如图。
电子产品可靠性试验目的通常有如下几方面：
1、在研制阶段用以暴露试制产品各方面的缺陷，评价产品可靠性达到预定指标的情况；
2、生产阶段为监控生产过程提供信息；
3、对定型产品进行可靠性鉴定或验收；
4、暴露和分析产品在不同环境和应力条件下的失效规律及有关的失效模式和失效机理；
5、为改进产品可靠性，制定和改进可靠性试验方案，为用户选用产品提供依据。
电子产品可靠性试验的方法及分类
电子产品的可靠性试验大致包括：高低温、温度冲击、运输振动、跌落、高加速寿命试验等。
其中高加速寿命试验（Highly Accelerated LifeTesting，简称HALT试验）是一种对电子和机械装配件利用快速高、低温变换的震荡体系来揭示设计缺陷和不足的过程。
HALT的目的是在产品开发的早期阶段识别出产品的功能和破坏极限，从而优化产品的可靠性。
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