电子产品可靠性实验目的：在研制阶段用以暴露试制产品各方面的缺陷，评价产品可靠性达到预定指标的情况；生产阶段为监控生产过程提供信息；对定型产品进行可靠性鉴定或验收；暴露和分析产品在不同环境和应力条件下的失效规律及有关的失效模式和失效机理；为改进产品可靠性，制定和改进可靠性试验方案，为用户选用产品提供依据；在设计阶段采取提高可靠性的措施，比起以后各阶段采取措施耗资Zui少，效果也显著。
可靠性试验的分类：1.环境试验；考核产品在各种环境（振动、冲击、离心、温度、热冲击、潮热、盐雾、低气压等）条件下的适应能力，是评价产品可靠性的重要试验方法之一；2.寿命试验；研究产品寿命特征的方法，这种方法可在实验室模拟各种使用条件来进行。寿命试验是可靠性试验中Zui重要Zui基本的项目之一，是将产品放在特定的试验条件下考察其失效（损坏）随时间变化的规律；3.筛选试验：一种对产品进行全数检验的非破坏试验。其目的是为选择具有一定特性的产品或易早期失效的产品，以提高产品的使用可靠性。产品在制造过程中，由于材料的缺陷，或由于工艺失控，使部分产品出现所谓早期缺陷或故障，这些缺陷或故障若能及早剔除，就可以保证在实际使用时产品的可靠性水平。4.现场使用试验；是在使用现场进行的，能真实地反映产品的可靠性问题，获得的数据对于产品的可靠性预测、设计和保证有很高的价值。对制定可靠性试验计划、验证可靠性试验方法和评价试验性，现场使用试，验的作用比较大。5.鉴定试验；对产品的可靠性水平进行评价时而做的试验，它是根据抽样理论制定出来的抽样方案，在保证生产者不致使质量符合标准的产品被拒收的条件下进行鉴定试验。
我们知道它们只是估计值我们确定元器件失效的工作温度对于我们的应用来说是正确的预计产品的MTBF有两个好处。这样可满足客户的要求；这种预计是在设计方案用于生产之前要花较长时间来做的工作，它甚至揭示产品的弱点，这样就可使制造商以少的费用来对这些弱点进行改进。随着科技进步和软件行业的迅速发展，当代的可靠性工程师可利用软件来简化可靠性计算。计算机使人们能选择诸如工作电压和工作温度之类的应力等级来模拟产品将要经受的实际工作条件。
寿命试验（MTBF）方法分为定时截尾试验，定数截尾试验，估算方法为：平均寿命的点估计值、单侧置信下限估计、双侧区间估计。高温工作寿命试验高温寿命试验为利用温度及电压加速的方法，藉短时间的实验来评估IC产品的长时间操作寿命。
寿命试验（MTBF）是研究产品寿命特征的方法，这种方法可在实验室模拟各种使用条件来进行。寿命试验是可靠性试验中重要基本的项目之
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