电磁兼容抗试验:静电放电抗扰度试验:接触放电+15kV,空气放电+15kV,放电次数正负极性各10次。工频磁场试验:测试端口外壳端口,磁场强度1000A/m,测试方向X,Y,Z三个轴向。脉冲磁场试验:测试端口外壳端口,磁场强度1000A/m,试验次数正负极性各10次,测试方向X,Y,Z三个轴,向。射频电磁场辐射试验:试验等级3级,测试频率80MHz-1000MHz,试验场强10V/m。阻尼振荡磁场试验:试验等级5级,磁场强度100A/m。
电子产品可靠性实验目的:在研制阶段用以暴露试制产品各方面的缺陷,评价产品可靠性达到预定指标的情况;生产阶段为监控生产过程提供信息;对定型产品进行可靠性鉴定或验收;暴露和分析产品在不同环境和应力条件下的失效规律及有关的失效模式和失效机理;为改进产品可靠性,制定和改进可靠性试验方案,为用户选用产品提供依据;在设计阶段采取提高可靠性的措施,比起以后各阶段采取措施耗资Zui少,效果也显著。
![撞击试验报告认证项目](http://static.11467.com/img/lazy.gif)
通过预计计算来得到MTBF有几个个普遍被接受的标准可用来计算MTBF。大多数规划都用版本的MIL-STD-217FN2和GJB299B,而许多商用产品规划则用Bellcore方法来计算MTBF。MlL-STD-217FN2是美国可靠性分析中心和罗姆试验室多年开展的工作总结为依据的,GJB299B是国内自己的预计标准,而Bellcore版本则是贝尔电信研究公司即现在的TelcordiaTechnologies公司对该手册进行修改和简化而成的。
通过寿命试验可以对产品的可靠性水平进行评价,并通过质量反馈来提高新产品可靠性水平。在合适工作条件下器件使用寿命期内的故障率很低。电子元器件的寿命,与工作温度是有密切关系的。以电脑主板上常用的也常出故障的电解电容器为例,其寿命会受到温度的影响。
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通过寿命试验可以对产品的可靠性水平进行评价,并通过质量反馈来提高新产品可靠性水平。在合适工作条件下器件使用寿命期内的故障率很低。电子元器件的寿命,与工作温度是有密切关系的。以电脑主板上常用的也常出故障的电解电容器为例,其寿命会受到温度的影响。
环测威遵循“科学 公正 准确 ”的质量方针,遵循准则和惯例以及国家的法律法规,在严格的程序下开展工作,对所有委托方均持科学、公正的态度,坚持保密的原则,向社会各界提供优质的服务。目前认证涉及的产品有家庭影院类:(音响、VCD、DVD、MP3、MP4、U盘、硬盘存储器、功放机、CD唱机、机、遥控器、多媒体音箱、光碟机、投影机、照相机等)办公用品类:(传真机、机、交换机、打印机、留言机、答录机、软驱、CD-ROM、DVD-ROM、电脑、电脑键盘、鼠标、摄像头、电脑机箱