可靠性试验测试方法

可靠性试验测试方法，gjb150.7A太阳辐射试验（灯暴露试验、碳弧灯暴露试验、卤素灯暴露试验）加热效应主要是由太阳辐射能中红外光谱部分产生的，主要引起产品短时高温和局部过热造成一些对温度敏感的元器件失效，结构材料的机械破坏和绝缘材料的讨热损坏等。
高低温试验：高低温冲击试验的目的是考察被试样品在突然遭到温度剧烈变化时之抵抗能力，主要用于考察剪切和疲劳损伤引起的失效。特别在元器件存在虚弱部分具有开路隐患时，高低温冲击试验具有较好的鉴定效果，该实验一般用高低温冲击试验箱。
可靠性测试办理的重要性：
可靠性试验是为了确定已通过可靠性鉴定试验而转入批量生产的产品在规定的条件下是否达到规定可靠性要求，验证产品的可靠性是否随批量生产期间工艺，工装，工作流程，零部件质量等因素的变化而降低。只有经过这些，产品性能才是可以信任的，产品的质量才是过硬的。

电子电器产品的高低温测试分为高低温存储测试和高低温运行测试。高低温存储是产品不上电，在非工作状态下进行测试。高低温运行是给产品供电，在产品工作状态下进行测试。

可靠性试验测试方法，盐雾试验的步骤：a.调节试验箱温度为35度，并在喷雾前将试件保持在这种条件下2h；b.喷盐雾24小时或有关文件规定的时间。在整个喷雾期间，盐雾沉降率和沉降溶液的PH值至少每隔24小时测量一次，保证盐溶液的沉降率为（1-3）ml（80cm2.h）。c.在标准大气条件温度15度-35度和相对湿度不高于百分之五十的条件下干燥试件24小时或有关文件规定的时间。在干燥期间，不能改变试件的技术状态或对其机械状态进行条件。d.干燥阶段结束时，除另有规定外，应将试件重置于盐雾试验箱内并重复b和c至少1次。e.进行物理和电气性能的检测。记录试验结果。若对此后的腐蚀检查有帮助，则可以在标准大气条件下用流动水轻柔冲洗试件，再进行检测并记录试验结果。f.对试件进行目视检查，并记录检查结果。

高低温湿热环境试验实验室检测报告：湿热试验标准：GB/T1740-1979采用的是恒温恒湿试验周期法，温度为（47±l）℃，相对湿度（96±2）%，美国ASTMD2247也是采用同样方法，其温度为（38±I）℃[（100土2）°F]，相对湿度为，样板上始终有凝水。国外也有一些标准采用高温度短周期和温湿度交变试验周期。

可靠性试验测试方法，高低温测试又叫作高低温循环测试，是产品环境可靠性测试中的一项。基本上所有的产品都是在一定的温度环境下存储保存，或者工作运行。有些环境下的温度会不断变化，时高时低。比如在有些温差大的地区的白天黑夜。或者产品在运输、存储、运行过程中反复进出于高温区、低温区。这种高低温环境高温时可能会达到70°C度以上甚至更高，低温时温度可能会达到-20°C度以下甚至更低。
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