精密低阻测量
在低电流电路中，机电元件的接触故障是元件可靠性中的主要问题。HP4338B提供可选择的低交流测试信号(1μA~10mA)。用户目前可在低电流的条件下来表征机电元件的低阻特性。10μΩ的高分辨率可用来确定继电器、开关、接头、印制电路板图形和电缆在接触电阻测试中的微小差别。1kHz测试信号消除了由热电对被测元件接触的影响而引入的潜在误差。1kHz的交流测试信号是检查电池内阻的 z 好方法，因为它避免了直流能量的消耗。
高速测量
高速(34ms)内设比较器和HP-IB/处理器接口有可能用自动处理器和外部计算机构成一个测量系统，使生产测试时间缩短到 Z 低限度。
自动测量方式
在进行大量连续的测试、而测试信号电平又不是很主要的因素时，自动测量功能会使仪器选择合适的测试信号并设定测量范围。
技术指标
(全面的技术指标请参阅技术资料)
测量功能
测量参数：R(交流电阻)，X(电抗)，L(电感)，|Z|(阻抗)，θ(相位[°])
组合参数：R，R-X，R-L，｜Z｜-θ(只适用于串联模式)
数学功能：偏差和相对偏差(以百分比表示)
显示数字：3.4或5位(可选择)
测试信号特性
测试频率：1kHz
频率精度：±0.1%
测试信号电平：1μA，10μA，100μA，1mA，10mArms
电平精度：±(10%＋0.2μA)
样品两端的 Z 大电压：在任何情况下Z 大为20mV峰值