温度冲击检测的目的用来测试材料结构或复合材料，在瞬间下经高温、低温的连续环境下所能忍受的程度，适用于科研、学校、工厂、检测等单位用于电工、电子产品、半导体、电子线路板、金属材料、轴承等各种材料在温度急剧变化环境下的适应性试验。
一、温度冲击试验目的：确定测试产品在周围大气温度急剧变化时的适应性及被破坏性。
二、温度冲击试验条件：高温箱：RT~150℃，低温箱：RT~-40℃，试验温度保持时间：1h或者直至试验样品达到温度稳定，以时间长者为准循环次数：针对各个不同行业不同厂家所对应的试验要求不一样，按照标准上的试验方法测试。
三、恢复：测试产品从冷热冲击箱内取出后，应在正常的试验大气条件下进行恢复，直至试验样品达到温度稳定。
四、温度冲击箱参照标准：GB/T2423.1.2、GB/T2423.2、GB10592、GJB150.3、GJB150.4五、对温度冲击箱的要求：
1.采用高温箱和低温箱进行冷热冲击试验，以提供试验样品经受周围空气温度急剧发生变化的环境温度。
2.高温区的要求，应符合GJB150.3-86《检测设备环境试验方法高温试验》的第3章各条所规定的要求。
3.低温区的要求，应符合GJB150.4-86《检测设备环境试验方法低温试验》的第3章各条所规定的要求。
4.提供高温试验部分和低温试验部分，应分别符合GJB150.3-86和GJB150.4-86的第3章各条所规定的要求。
5.温度冲击箱的容积应保证在试验样品放入候补超过试验温度保持时间的10%就能使试验箱（室）温度达到GJB150.1-89中3.2条规定的试验条件容差范围之内。
六、温度冲击箱控制系统：
a.低温区、高温区转换时间≤15s。b.温度恢复时间≤5min。
