高加速应力试验HAST
加速寿命试验的目的是提高环境应力(如:温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷.等),加快试验过程,缩短产品或系统的寿命试验时间。HAST高加速应力试验被广泛应用于国防、航天、汽车部件、电子零配件、塑胶、制药等行业相关之产品作加速寿命试验。
当HAST试验应用于产品的设计阶段时,可以快速暴露产品的缺陷和薄弱环节,特别是线路板,多层线路板,IC半导体,LCD,磁铁等产品之密封性能的检测,测试其制品的耐压性,气密性。HAST试验结果能够分析出何时出现电子元器件和机械零件的摩耗和使用寿命的问题,使用寿命的故障分布函数呈什么样的形状,以及分析失效率上升的原因。
参考标准:GB/T 2423.40,IEC 60068-2-66,JESD22-A102等 。