型 号:IM3570
名 称:阻抗分析仪
品 牌:日置(HIOKI)
分 类:通用电子测试 > 元器件参数测试 > 阻抗分析仪
产品属性:主机
简 述:
HIOKI 阻抗分析仪IM3570
1台仪器实现不同测量条件下的高速检查
1台仪器实现LCR测量、DCR测量、扫描测量等的连续测量和高速检查
LCR模式下快1.5ms(1kHz),0.5ms(100kHz)的高速测量
基本精度±0.08%的高精度测量
适用于压电元件的共振特性检查、功能性高分子电容的C-D和低ESR测量,电感器(线圈、变压器)的DCR和L-Q的测量
分析仪模式下可进行扫频测量、电平扫描测量、时间间隔测量
可以用于无线充电评价系统TS2400
搭配4ch扫描模块机架,更能实现2MHz阻抗的4ch测量
主机不标配治具。请根据您的需求选择选件中的治具和探头。