电子产品温度冲击温度骤变测试，亿博检测提供各类电工电子产品、电子元器件、电路板、半导体期间、各类传感器、大容量存储设备、电路板、整机设备的温度冲击试验服务、温度循环、温度变化、温度骤变试验第三方检测服务，实验室具备CNAS和CMA认可资格，可以出具国家承认的中文或英文检测报告。
温度冲击试验是确定产品在温度急剧变化气候环境下储存、运输、使用的环境适应性能力，在高温与低温瞬间变化条件下，对产品的物理以及其他相关特性进行环境模拟测试，通过测试后的检测，来判断产品的性能，是否仍然能够符合预定要求，以便供产品设计、改进、鉴定及出厂检验用；通过此试验，可提高产品的可靠性和进行产品的质量控制。
温度冲击试验严苛程度取决于高高低温温度点、高低温停留时间及循环次数。
检测标准：
GJB装备实验室环境试验方法第5部分：温度冲击试验
GJB 367A－2001通信设备通用规范
GJB 360B-2009电子及电气元件试验方法
GJB 322A-1998计算机通用规范
GJB技术侦察装备通用技术要求第7部分：环境适应性要求和试验方法
GB/T2423.22-2012，IEC 60068-2-14:2009环境试验第2部分:试验方法试验N:温度变化
测试示例：
温度冲击试验：温度范围-45℃-+85℃，温度转换时间为≤3min，高低温极限温度各保持2小时，循环次数为10次，试验过程中不通电，试验结束后，检查外观和通电测试产品功能。
循环次数每个检测标准要求的不同，有的要求3次，5次，10次循环的都有，高低温保持时间也是根据产品的实际使用场及用户的要求来确定。