HIOKI此次发售了阻抗分析仪IM7581。在信息化发展的，为了收发大容量的数据，高速差分传输等传输线也在高速发展之中。这类高速传输线的延迟时间偏差的改善和干扰对策中所使用的共模滤波器及铁氧体磁珠等电子元件也随之向高频化发展。
在这样的市场走势中，我司于去年8月发售了IM7580。IM7580*高可测量300MHz的高频，是一款适用于高频化电子元件的产品。通过IM7580*快0.5ms（0.0005秒）的高速测量，能够更快速的检查大量的电子元件，并提高电子元件厂商的生产效率。
本次发售的IM7581，相对于IM7580的1MHz～300MHz测量频率，还扩大了低频范围达到100kHz～300MHz。之前需要使用两台测量仪器的产线中，只需要一台IM7581即可对应。
日置IM7581阻抗分析仪开发背景
现在需要进行大容量数据的收发，高速差分传输等传输线在高速发展之中。为了在维持高速传输线的信号品质的控制干扰影响，会使用共模滤波器和铁氧体磁珠等电子元件，而随着传输线的高速化，此类电子元件也向高频化发展。
在追求手机和手提电脑的小型化时，电源部分也需要小型化，为了解决这个问题要将DC-DC转换器的开关频率高频化。只是，大型设备中的开关频率也存在以往数百kHz的设备，生产这些电子元件的电子元件厂商在电子元件的开发和出货检查中需要进行数百kHz~数十MHz的测量。很少有1台机器就能测量这个频率范围，一般出货检查中会安装2台测量仪器，按照不同的产品切换着来使用。
在此需求的基础上，我司着手开发了能够满足100kHz低频测量的高频且能够进行高速测量检查的阻抗分析仪，在以往需要2台测量仪器的生产线中，现在只需要1台测量仪器即可。
日置IM7581阻抗分析仪主要用途
电子元件厂商的电子元件的出货检查
电子元件厂商的电子元件的验收和特性评估
日置IM7581阻抗分析仪产品特点
测量频率带宽100kHz～300MHz
IM7581的测量频率是100kHz~300MHz。和去年发售的IM7580相比，还能对应低频测量。单一频率测量的LCR模式的话，可用于电子元件的出货检查的合格判断，变化频率的测量的分析模式的话，可用于产品开发中的特性评估等各种领域。
*快0.5ms的高速测量和高稳定性的测量，有利于提高生产效率
*快0.5ms（0.0005秒）的高速测量。对于需要更快速检查大批量电子元件的电子元件厂商来说，大幅提高了生产效率。
测量的反复精度和以往产品相比提高了1/10，能够更加稳定的测量，并改善生产的产率，从而提高生产效率。
主机尺寸小型化，减少生产成本
电子元件厂商的生产线中，机架里安装了各种仪器并制作成检查系统，来进行自动检查。通过将主机尺寸变小，让检查系统小型化，通过安装多台仪器能够缩短检查时间，从而降低生产成本。
IM7580的尺寸是半个机架的大小（长215mm、高200mm、宽268mm），一个机架中能放置2台。
各种判定功能判定合格情况
IM7581中追加了点判定的功能。除了在以往单一的频率下判定合格与否的方式外，还能使用点判定来判定多个频率的合格情况，是更**的电子元件的检查方式。
日置IM7581阻抗分析仪基本参数
基本精度：±0.72%rdg
测量速度：FAST: 0.5ms/MED: 0.9ms/SLOW: 2.1ms/SLOW2: 3.7ms
测量范围：100mΩ ～5kΩ
测量频率：100kHz ～300MHz
测量信号电平：-40.0dBm～+7.0dBm / 4mV～1001mV / 0.09mA～20.02mA