电子电气产品定量加速寿命试验？

加速试验的目的
1、采用加大应力的方法促使产品在短期内达到相同的失效效果，以预测其在正常工作条件或储存条件下的可靠性/寿命；
2、通过加大应力，快速找出产品潜在的设计薄弱环节，提供产品的可靠性/寿命信息，实现产品可靠性提高/寿命延长。
加速试验的分类
基于累积损伤模型，试验中获取的相关信息以及产品的使用状态假设,加速试验方法被分成三种类型：
A类(定性加速试验)：用于发现故障模式和(或)故障现象；
B类(定量加速试验)：用于预计产品正常使用时的失效分布；
C类(定量时间和事件压缩试验)：用于预计产品正常使用时的失效分布。
注：其中B类和C类加速试验方法可以使试验时间缩短。B类加速试验需基于某一特定的失效机理,通常情况下，可应用于产品的寿命加速。针对C类加速试验方法需要在试验前对其使用方式进行研究并对其具体的使用条件进行假设，可应用于失效率加速。
B类定量加速试验方法
B类定量加速试验是使用应力累积损伤方法确定产品预期寿命期的可靠性水平。产品预期损伤值与其使用时要求值之间的必要裕度决定了产品的可靠性水平。该类定量加速试验在比产品预期寿命短得多的时间内实现预期的累积损伤。
B类加速试验使用基于具体失效机理(失效模式)确定的定量加速因子，该加速因子确定了产品在特定试验应力与其使用环境应力下所能经受的时间之间的关系。产品的失效或失效模式分布是通过收集各项加速试验的信息确定的。该试验信息为建立产品的使用寿命模型提供依据，可用于量化各种可靠性指标的加速性。
在这种方式下，可通过在任何预期的应力水平下评估单个失效模式发生的概率或可靠度来评估整个产品的可靠性。如果需要使用其他试验类型(比如可靠性增长试验，可靠性验证试验)来分析数据时，已确定的加速因子可以用于重新计算加速试验中的失效次数以便表征产品在使用环境条件下的失效次数,并用于计算其可靠性。
从该类定量加速试验中获取信息的另一种方式是在特定的环境条件和失效模式下开展试验直至受试样品发生失效。这种方式可以确定合理的产品失效分布及合适的加速因子，可用于计算特定失效模式发生的概率。B类试验的应力水平比产品使用时要求的应力水平高，但低于加速极限试验所施加的应力水平，如图1所示。这个试验应力水平可以处于设计规范规定的应力极限与破坏应力极限之间。该类试验持续时间应足够长，以期引起的累积损伤比产品在寿命期内经受的预期应力而引起的累积损伤大并确保有一定的裕度。这个裕度可以用来确定产品在时间(tL)内的可靠度R(tL)。
可以通过提高比特定使用应力(工作应力、环境应力)高的试验应力来缩短试验时间。试验应力水平产生了与产品预期寿命期内等同的累积损伤效应,可以很显著地缩短试验周期。
C类定量加速试验方法
C类试验主要用于评估以耗损型为主要故障模式的部组件的寿命时间,比如开关、键盘、继电器,连接器或轴承等。
C类时间压缩试验通常也用于确定：
a）系统集成问题(如软件与硬件集成或交互作用)；
b）特定工作状态下的失效模式，如任何机械或电气周期性动作历程的工作循环；
c）应力范围宽的特定环境条件下的失效模式，但需要确定一个阈值，目的是为了使产品经受低于阈值的应力以免对其造成显著的损伤。
对于时间压缩或事件压缩试验而言，应力水平的增加是通过延长应力施加的持续时间或频次而不是增加其应力量值来实现的。
常用的定量加速模型：
温度加速Arrhenius模型、温湿度加速Peck模型、温度循环加速W-E模型、振动/电应力加速逆幂模型、温湿度-振动综合应力加速模型