一X射线荧光光谱(XRF)技术是一项可用于确定各类材料成分构成的分析技术,已经成熟运用多年。其应用方向包括金属合金、矿物、石化产品等等。
X射线形成部分电磁波谱。其处于紫外线辐射的高能侧,使用千电子伏特表示能量高低,纳米表示波长。
XRF一般可用于分析从钠到铀的所有元素,其可识别浓度范围低至百万分级,高至百分比,可用于分析固体、液体和粉状物。
二 X射线荧光激光测验报告FDA认证组织认证过程:
1、咨询请求人供给产品材料图片或经过描绘阐明所需求请求FDA的产品及材料.
2、报价依据请求人供给的材料,技能工程师将作出评价,断定须测验的项目,并向请求方报价
3、请求方承认报价后填写测验请求表和测验样品
4、样品测验--测验将按照所适用的FDA规范进行
5、测验完成后供给FDA认证报告
三 X射线荧光光谱技术的原理
所有XRF仪器都拥有两个主要成分,一个是X射线源,一般采用X射线管,另一个则是探头。X射线源会发出初级X射线到样品表面,有时会通过滤光器对X射线束进行调整。在光束击打样品原子时,会产生次级X射线,这些次级X射线会被探头收集并处理。
较稳定的原子是由原子核及绕核旋转的电子构成,电子按照能量层级或电子壳层排列,不同的能量层级可包含不同数量的电子。
在高能初级X射线与原子发生碰撞时,会打乱原子的平衡状态。
此时,电子会从较低的能量层级射出,形成电子空位,使原子失去稳定。
为了恢复稳定性,较高能量层级的电子就会填补空位。而电子在两个能量层级间移动时释放的多余能量就会以次级X射线的形式发射出来。发射出的X射线的能量会表现出元素的特征。