电子MTBF测试质检报告价格优惠
根据测试,通常2.0G的CPU消耗功率达56.7W,生成温度达70℃;而当频率提高至3.0G时,CPU温度往往超过90℃。在这样的高温烘烤下,主板上的电容器寿命会发生什么变化?
为简化起见,不考虑纹波、频率、ESR等因素,电容器的估计寿命可用下述公式表示:
其中,L0表示工作温度下的寿命,Tmax表示工作温度,Ta表示实际环境温度。如果环境温度每升高10℃,电容器寿命将下降一倍!
由上图右面的曲线可明显看出,随着电容器工作环境温度的上升,其有效寿命急剧缩短。其中有效寿命(Usefullife)是指该种电容器达到给定故障率的时间。
MTBF计算方法:
MTBF一般测试方法有计算法,实验室预计测试法,实测法。实测法相对来说测试要求比较高,对于样品数量、样品测试时间、以及测试费用都比较高。目前MTBF主要应用的招投标项目都认可计算法和实验室预计测试法,我们市面上通常用的比较多的是计算法和实验室预测法。
电子产品的寿命一般都符合浴盆曲线,可分为三个阶段:
早夭期:由于设计,原材料,生产等可能出现的原导致一个较高失效率的阶段,也称失效率递减阶段,可通过环境应力筛选加以剔除,保证产品的可靠性。
稳定期:这一阶段产品失效率近似一个常数,只有随机失效产生,MTBF即要得到这一阶段的寿命。
耗损期:硬件故障期,产品这时已达到设计寿命,进入报废阶段。