射频识别（RFID）技术是20世纪90年代开始兴起的一种非接触的自动识别技术，它是利用射频信号和空间耦合或雷达反射的传输特性，实现对被识别物体的自动识别。与传统的磁卡、IC卡相比，该技术的大优点在于远间隔和非接触识别，因此完成识别工作时无须人工干预，适合于实现系统的自动化且不易损坏，可识别高速运动物体，操纵快捷方便。
RF测试借鉴了无线技术的性能和功能。它涵盖的设备范围非常广泛，包括：
1.短距离无线通讯设备（SRD）、蓝芽，WLAN（802.11a/b/g/n）和基地台
2.中继器、CDMA2000、GSM、WCDMA和LTE手机
3.专用移动无线电（PMR）、海上设备（DSC/ATIS/AIS）、搜索和救援信标（包括EPIRBs、ELTs、PLBs）
4.DECT/CAT-iq手机模块、手机与基地台
由于世界上存在大量RF应用，因此产品和系统必须能够在其电磁环境中运行，并且不得将难以忍受的电磁干扰引入环境中。因此，在产品或系统进入市场之前，必须对其进行RF抗扰度和辐射测试。对于RF抗扰度测试，设备暴露于RF干扰和具有场强和频率范围的场，代表其工作环境。另一方面，当测试一件设备的RF发射时，在正常操作下，设备将监测RF干扰和场。
RFID电子标签可靠性试验项目：
1、电磁兼容抗干扰试验
静电放电抗扰度试验：接触放电±15kV，空气放电±15kV，放电次数正负极性各10次。
工频磁场试验：测试端口外壳端口，磁场强度1000A/m，测试方向X,Y,Z三个轴向。
脉冲磁场试验：测试端口外壳端口，磁场强度1000A/m，试验次数正负极性各10次，测试方向X,Y,Z三个轴向。
射频电磁场辐射试验：试验等级3级，测试频率80MHz-1000MHz,试验场强10V/m。
阻尼振荡磁场试验：试验等级5级，磁场强度100A/m。
2、环境适应性试验
低温试验：-40℃，稳定2小时，试验后读取数据。
低温贮存试验：-50℃，贮存16h，试验后读取数据。
高温试验：+75℃，温度2小时，试验后读取数据。
高温贮存试验：+85℃，温度2小时，试验后读取数据。
温度循环试验：-40℃~+85℃，高低温各保持3小时，温度变化速率1oct/min,循环5次。
恒定湿热试验：温度+85℃，湿度95％，贮存48小时，恢复到常温保持2小时，读取样品数据。
盐雾试验：温度35℃，5％NACL溶液，连续喷雾48小时，试验后，外壳涂层不应出现锈蚀现象。
振动试验：10Hz-150Hz,加速度10m/s2，每方向振动1小时。
机械冲击试验：冲击波形半正弦波，加速度147m/s2,脉冲宽度11ms，试验后应能读取样品数据。
3、防尘防水试验
IPX8防水试验：水深2米，试验1小时，开盖检查，壳体内部没有进水。
IP6X防尘试验：抽负压，沙尘箱中试验8小时，开盖检查，壳体内部没有进尘。
一般市场用户在进行RFID电子标签采购时，均要求提供国家认可的第三方检测机构出具的有效检测报告。
射频RF测试办理步骤如下：
1、设置发射机为非调制的载波持续发射，正确接入频率计；
2、记录各种条件，包含极限条件的频率值；
3、调节供电电源电压，从极限低压继续往下调，直到0，中间记录发射频率的状况；
4、记录停止发射时的工作电压节点。