手机可靠性测试常规测试条件
结构耐久测试（Mechanical Endurance Test）
◆·样品标准数量：
8台。
◆·测试周期：7天。
◆·测试目的：各结构件寿命测试。
1.按键测试（Keypad Test）
·测试环境：室温（20~25°C）；4台手机；手机设置成关机状态。
·测试方法：导航键及其他任意键进行10万次按压按键测试。
·试验标准：手机按键弹性及功能正常。
2.侧键测试（Side Key Test）
·测试环境：室温（20~25°C）；4台手机；手机设置成关机状态；5万次按压。
3.翻盖测试（Flip Life Test）
·测试环境：室温（20~25C）；4台手机；手机设置成开机状态；10万次开合翻盖测试。
·试验标准：6万次后，手机外观，结构，及功能正常。
4.滑盖测试（Slide Life Test）
·测试环境：室温（20~25°C）；4台手机；手机设置成开机状态；8万次滑盖测试。
·试验标准：6万次后，手机外观，结构，及功能正常，滑盖不能有松动。
5.重复跌落测试（Micro-Drop Test）
·测试环境：室温（20~25°C）；7cm高度，20mmPVC板；4台手机；开机状态；6000次。
·测试标准：手机各项功能正常，外壳无变形、破裂、掉漆，显示屏无破碎，晃动无异响。
6.充电器插拔测试（Charger Test）
·测试环境：室温（20~25°C）；4台手机。
·试验方法：将充电器接上电源，连接手机充电接口，等待手机至充电界面显示正常后，拔除充电插头。在开机不插卡状态下插拔充电3000次。