根据可靠性统计试验所采用的方法和目的，可靠性统计试验可以分为可靠性验证试验和可靠性测定试验。可靠性测定试验是为测定可靠性特性或其量值而做的试验，通常用来提供可靠性数据。可靠性验证试验是用来验证设备的可靠性特征值是否符合其规定的可靠性要求的试验，一般将可靠性鉴定和验收试验统称为可靠性验证试验。可靠性试验是对产品进行可靠性调查、分析和评价的一种手段。试验结果为故障分析、研究采取的纠正措施、判断产品是否达到指标要求提供依据。
1.如以环境条件来划分，可分为包括各种应力条件下的模拟试验和现场试验；
2.以试验项目划分，可分为环境试验、寿命试验、加速试验和各种特殊试验；
3.若按试验目的来划分，则可分为筛选试验、鉴定试验和验收试验；
4.若按试验性质来划分，也可分为破坏性试验和非破坏性试验两大类。
5.但通常惯用的分类法，是把它归纳为五大类：
A.环境试验
B.寿命试验
C.筛选试验
D.现场使用试验
E.鉴定试验
可靠性是与电子工业的发展密切相关的，其重要性可从电子产品发展的三个特点来加以说明。
电子产品的复杂程度在不断增加。人们zui早使用的矿石收音机是非常简单的，随之先后出现了各种类型的收音机、录音机、录放相机、通讯机、雷达、制导系统、电子计算机以及宇航控制设备，复杂程度不断地增长。电子产品复杂程度的显著标志是所需元器件数量的多少。而电子产品的可靠性决定于所用元器件的可靠性，因为电子产品中的任何一个元器件、任何一个焊点发生故障都将导致系统发生故障。一般说来，电子产品所用的元器件数量越多，其可靠性问题就越严重，为保证产品或系统能可靠地工作，对元器件可靠性的要求就非常高、非常苛刻。
电子产品的使用环境日益严酷。从实验室到野外，从热带到寒带，从陆地到深海，从高空到宇宙空间，经受着不同的环境条件，除温度、湿度影响外，海水、盐雾、冲击、振动、宇宙粒子、各种辐射等对电子元器件的影响，导致产品失效的可能性增大。
第三，电子产品的装置密度不断增加。从第/一代电子管产品进入第二代晶体管，现已从小、中规模集成电路进入到大规模和超大规模集成电路，电子产品正朝小型化、微型化方向发展，其结果导致装置密度的不断增加，从而使内部温升增高
