HAST老化试验
HAST老化试验广泛运用于IC半导体材料、射频连接器、电路板、永磁材料、纤维材料、EVA、太阳能组件等行业相关之商品作老化老化测试。加速寿命试验的目的在于提升环境应力(如：环境温度)与工作应力(增加给商品的电压、负载.等)，加速实验全过程，减少产品或者系统的寿命实验时长。用以调研分析什么时候发生电子元件，和机械零件的摩耗和使用期限问题，使用期限的常见故障分布函数呈怎么样的样子，及其剖析失效率上涨的缘故而进行的实验。
为了保证环境应力(如：环境温度)与工作应力(增加给商品的电压、负载等)，加速实验全过程，减少产品或者系统的寿命实验时长，因而用于明确制成品品质的检测时间也随之增强了很多为了保证实验高效率、降低实验时长。
应用领域
HAST高加快老化试验是主要运用于评定在环境湿度条件下产品或原材料的可靠性，是由在相对高度可控的压力管道内设置和建立环境温度，环境湿度，工作压力，的各类标准来实现的，这个条件加快了水份透过外界防御性塑料包装制品并把这种地应力标准增加到磨具/设备上。HAST高加快老化试验已经成为一些行业规范，尤其是在半导体材料，太阳能发电和其它工业上，做为规范温湿度误差检测（85C/85RH—1000钟头）的高效合理取代
HAST是加快防水测试更为加快版本号，与持续高温/高环境湿度检测（85C/85%RH）对比HAST也会产生大量成份，触碰因为体内湿气驱动腐蚀和更多绝缘层劣变。HAST实现了主要运用于塑胶密封组件。下列显示比较常见的报表与HAST有关的检测标准。检测在指定温度与空气湿度中进行环境湿度或工作压力。空气一般具备超过100℃温度，在a水蒸汽充压情况，HAST有时候被归为组成测试压力又被觉得环境监控系统。有饱和状态和HAST和不饱和脂肪种类。前面一种通常是在121℃和****的条件下进行RH，后面一种在110,120或130℃和85RH的条件下，
进行检测电子元器件的插电一般是不饱和脂肪种类。HAST是一个非常极端化的测试，加快因素在几十到几百倍中间，85C/85%RH的条件下，这类极端化的加速促使查验至关重要不成功方式。
