MTBF寿命测试
一般常见的寿命实验方法有BI(Burn-in)/EFR(Early FailureRate)/HTOL(HighTemperature Operating Life)/TDDB(Time dependentDielectricBreakdown),对于不同的产品类别也有相对应的测试方法及条件,如HTGB(High TemperatureGateBias)/HTRG(High Temperature Reverse Bias)/BLT(BiasLifeTest)/Intermittent Operation Life等。
低温工作寿命试验低温操作寿命试验为利用低温及电压加速的方法,评估该组件于低温环境操作下的寿命。温度工作寿命检测能力GJB899-2009
1.可靠性的定义在我们考虑可靠性预计之前,让我们来看看可靠性的定义。普遍被接受的可靠性的定义是产品在其指定应用环境条件下和在规定时间内正常工作的概率。