详细介绍：

高加速寿命测试 ----

   高加速寿命筛选试验是由美国军方所延伸出的设计质量验证与制造质量验证的试验方法，现已成为世界范围内电子业界的标准产品验证方法。它将原需花费6个月甚至1年的新产品可靠性试验缩短至一周，且在这一周中所发现的产品问题几乎与客户应用后所发现的问题一致，故HALT/HASS的试验方式已成为很多新电子产品上市前所必需通过的验证。一种对电子和机械装配件利用快速高、低温变换的震荡体系来揭示设计缺陷和不足的过程。试验的目的是在产品开发的早期阶段识别出产品的功能和破坏极限，从而优化产品的可靠性。

在产品研制阶段，为得出产品设计裕度和极限承载能力(破坏或损伤极限)而设计的一种试验，它应用步进的方法给产品施加环境应力并检测其性能，直到产品失效为止。为提高试验效率，所施应力并非工作环境的模拟而是加速应力，通常为高变温率(至少应大于55°C/min)的温度循环和多轴随机振动，还包括有通电循环、电压偏低、频率偏差等电应力。高加速寿命试验得到的应力极限值可以作为确定高加速环境应力筛选的应力量值的依据。