1 加电温度循环试验JESD22-A105C:2011 加电温度循环试验
2 振动和扫频试验JESD22-B103B.01:2016 振动和扫频试验
3 温度偏置工作寿命试验JESD22-A108F:2017 温度偏置工作寿命试验
4 温度冲击试验JESD22-A106B.01:2016 温度冲击试验
5 温度循环试验JESD22-A104E:2014 温度循环试验
6 温度湿度偏置循环寿命测试JESD22-A100D:2013 温度湿度偏置循环寿命测试
7 盐雾试验JESD22-A107C:2013 盐雾试验
8 稳态湿热偏置寿命试验JESD22-A101D:2015 稳态湿热偏置寿命试验
9 高加速寿命试验JESD22-A110E:2015 高加速寿命试验
10 高加速无偏置寿命试验JESD22-A118B:2015 高加速无偏置寿命试验
11 高加速蒸煮试验JESD22-A102E:2015 高加速蒸煮试验
12 高温存储寿命试验JESD22-A103E:2015 高温存储寿命试验
13 微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 X射线照相
14 半导体分立器件试验方法GJB128A-97 X射线照相
15 微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 芯片粘接的超声检测