电子设备在使用过程中经常会遭受到温度的变化，而这种温度的变化往往会引起电子元件收缩和膨胀，从而导致电子设备出现桥接、开路等故障。因此，为了保证电子设备在各种温度变化下依然能够正常运行，必须对其进行冷热冲击测试。
冷热冲击测试，是指将电子设备放入恒温箱内，在高温和低温环境之间进行反复转移，模拟现实环境中的温度变化情况。测试过程中，需要引入一些冷热冲击试件，来模拟测试样品在实际应用中可能遇到的各种环境后果。
在冷热冲击测试中，需要考虑到很多因素，如温度波动率、温度变化率、温度梯度、测试时间等。只有考虑到这些因素，才能对测试样品进行科学全面地评估。
| 测试项目 | 测试条件 | 测试结果 |
|---|---|---|
| 温度波动率 | 设定10℃/min的温升速率，测试-30℃至70℃的变化情况 | 样品在温度变化下没有观察到任何异常迹象，符合测试要求 |
| 温度变化率 | 设定20℃/min的温度上升速率，测试-20℃至85℃的变化情况 | 样品在温度变化下表现平稳，符合测试要求 |
| 温度梯度 | 测试在-40℃和85℃之间，30min内的温度波动情况 | 样品的表现符合测试要求，未出现任何异常迹象 |
| 测试时间 | 连续测试100次，每次测试10min | 样品经受100次的测试经非常牢固，没有发生故障 |
冷热冲击测试在电子设备的开发、制造和维护中具有非常重要的作用。只有经过全面科学的测试，才能进一步保证电子设备的性能和稳定性。因此，在电子设备的生产、维护和测试中，冷热冲击测试都是不可或缺的一项重要环节。
