单点片状电阻仪 EddyCus lab2020系列
用于测量导电层、涂层或基质。
非接触式实时测量
导电薄膜的**测量
隐藏和封装的导电层的表征
测量数据保存和输出功能
EddyCus lab2020SR是一个非接触式的单点片状电阻测量系统。该设备包含一个涡流传感器组，它能将微弱的电流诱导到导电薄膜和材料中。试样中的感应电流产生一个电磁场，与被测物的片状电阻相关联。该技术不受表面特征或形态的影响。它不需要任何形式的充分的试样接触或准备，如已知的2或4点探针测试（2PP，4PP）或霍尔效应或Van-der-Pauw测量。它既不需要设置测试结构，也不受表面粗糙度或非导电性封装或钝化层的影响。测量不会对被测薄膜产生物理影响。由于有机械磨损，涡流仪器有很长的使用寿命。它不受接触质量的影响，速度快，可以实现高重复性和**度，有利于研发和测试实验室中各种薄膜的系统质量保证。EddyCus工具可以由SURAGUS软件驱动，具有各种数据记录和输出功能，或者由SURAGUS软件开发工具包驱动的客户软件。
类型
片状电阻测试仪 – EddyCus® lab 2020SR(欧姆/平方，OPS)
金属层厚度测试仪 - EddyCus® lab 2020MT(nm, µm, mil)
各向异性和板材电阻测试仪 - EddyCus® lab 2020A(MD/TD)
湿涂层厚度和残余水分 - EddyCus®实验室2020HF[%]
电阻率和电导率测试仪 - EddyCus® lab 2020RM(mOhm cm, MS/m)
应用的领域
镀膜建筑玻璃，例如LowE
显示屏、触摸屏和平板显示器
OLED和LED应用
智能玻璃
石墨烯层
光伏硅片和电池
半导体硅片
金属化层和晶圆金属化
除冰和加热应用
电池电极
导电性涂布纸和导电性纺织品
测量技术:非接触式涡流传感器
基板:箔、玻璃、晶圆等。
基板面积:8英寸/204毫米x204毫米（三面开放）。
*大样品厚度/传感器间隙:3 / 5 / 10 /25毫米（由*厚的样品定义）。
金属薄膜（如铜）的厚度测量范围:2纳米-2毫米（根据片状电阻（参考我们的计算器））。
装置尺寸(W/H/D):11.4” x 5.5” x 17.5”/ 290 mm x 140 mm x 445 mm
重量:10公斤
