高低温测试是用来确定产品在高温或低温气候环境条件下储存、运送、运用的适应性的办法。实验的严苛程度取决于高温或低温的温度和曝露持续时刻。
一、高低温测试标准:
GB_T2423.2-2008电工电子产品环境实验第2部分:实验办法实验B:高温
G2423.1-2008电工电子产品环境实验第2部分:实验办法实验A:低温
IEC60068-2-2根本环境实验规程第2-2部分:实验实验B:干热
IEC60068-2-1:2007电工电子产品环境实验:低温
二、适用的行业包括:
电子、元器件、电路板、通讯、LED、液晶屏、仪器仪表、电容、车辆、医药、塑胶、金属、化学、建材等行业产品。
三、高低温实验箱主要能够展开以下项目实验:
(1)高温实验
实验意图:用来查核实验样品在高温条件下储存或运用的适应性。应用于比如像热带天气或炼钢厂等高温环境下作业的仪器、设备等。
实验设备:高低温(湿热)实验箱。
实验条件:一般选定一稳定的温度应力和坚持时刻。
优选常用温度:200℃,175℃,155℃,125℃,100℃,85℃,70℃,55℃等;
优选常用的实验时刻有:2h,16h,72h,96h等。
传感器+运算放大器+ADC+处理器是运算放大器的典型应用电路,在这种应用中,一个典型的问题是传感器提供的电流非常低,在这种情况下,如何完成信号放大?对于微弱信号的放大,只用单个放大器难以达到好的效果,必须使用一些较特别的方法和传感器激励手段,而使用同步检测电路结构可以得到非常好的测量效果。这种同步检测电路类似于锁相放大器结构,包括传感器的方波激励,电流转电压放大器,和同步解调三部分。需要注意的是电流转电压放大器需选用输入偏置电流极低的运放。
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