薄膜不仅在 LED和集成电路等高科技应用中发挥着重要作用，在触摸屏和钻头等日常产品中也发挥着重要作用。这些产品的性能受薄膜的成分、厚度、均匀性和其他特性的影响很大。康派斯可提供用于表征薄膜的分析技术和化学分析（例如XPS、TOF-SIMS、FTIR）如何相互配对以及如何以互补的方式与显微镜（AFM、SEM、TEM 等）配对服务。
检测范围
检测项目
检测标准
半导体表层薄膜
成分、厚度、均匀性等
GB/T 35269
GB/T 35255
GB/T 24908
IES LM-79-08
IES LM-82-12