半导体器件静态参数测试仪
型号:HUSTEC-200A-MT
可测试5000V,1600A以下IGBT、Mosfet、二极管等功率器件,兼容Si基、SIC、GaN器件测试;包括耐压,漏电流,饱和压降,开启电压等参数,还可以测试器件BV特性曲线,输出曲线,转移曲线,以及曲线对比功能。可用于器件设计,器件研发选型,IQC检验以及可靠性前后电参数测试以及失效分析等领域。
1) 测试电压范围:0-±5000V
2) 测试电流范围:0-±1600A
3) 测试栅极电压范围:0-±100V
4) 电压分辨率:1mV
5) 电流分辨率:0.1nA