国标标准：GB/T 17626.2《电磁兼容 试验和测量技术 静电放电抗扰度试验》

本部分规定了电气和电子设备遭受直接来自操作者及其操作者对邻近物体的静电放电时的抗扰度要求和试验方法，还规定了不同环境和安装条件下试验等级的范围和试验程序。本部分的目的在于建立通用的和可重现的基准，以评估电气和电子设备遭受静电放电时的性能。它还包括从人体到靠近关键设备的物体之间可能发生的静电放电。

本部分的规定包括：
——放电电流的典型波形；
——试验等级的范围；
——试验设备；
——试验配置；
——试验程序；
——校准程序；
——测量不确定度。
本部分对“实验室”试验和“设备安装完成后的试验”提出了技术要求。
本部分不对特殊设备和系统的试验进行规定。其主要目的是为所有有关专业标准化技术委员会提供一个通用的基本准则。有关专业标准化技术委员会(或设备的使用者和制造者)负责选择试验和确定试验条件的严酷等级。
为了不妨碍协调和标准化的任务，极力建议有关专业标准化技术委员会或用户和制造商考虑(在其未来的工作或原标准的修改中)采用本部分中规定的相关抗扰度试验。

Test Requirement 测试要求：

电磁兼容 - 静电放电抗扰度

Sample Size 样品数量 / 送样规格：2pcs
Lead Time / TAT (Turn Around Time) 测试周期：常规服务Regular service 7-9 working days

Report Summary 报告摘要:

Supervision Notes 监管摘要1：

市场监管总局关于2018年第3批播种机等39种产品质量国家监督抽查情况的通报
国市监质监函〔2018〕206号

集成电路（IC）卡读写机产品质量国家监督抽查结果

2018年第3批，共抽查了北京、河北、黑龙江、上海、江苏、浙江、山东、湖南、广东、四川等10个省、直辖市38家企业生产的38批次集成电路（IC）卡读写机产品。

本次抽查依据GB4943.1-2011《信息技术设备 安全 第1部分：通用要求》、GB/T18239-2000《集成电路（IC）卡读写机通用规范》、GB/T9254-2008《信息技术设备的无线电骚扰限值和测量方法》、GB/T 17618-2015《信息技术设备抗扰度限值和测量方法》、GB/T17626.2-2006《电磁兼容试验和测量技术静电放电抗扰度试验》、GB/T17626.4-2008《电磁兼容试验和测量技术电快速瞬变脉冲群抗扰度试验》、GB/T17626.5-2008《电磁兼容试验和测量技术浪涌(冲击)抗扰度试验》等标准的要求，对集成电路（IC）卡读写机产品的相互确认时间、键盘、通信、脱机工作能力、接触电流和保护导体电流、抗电强度、接地导体及其连接的电阻、电气绝缘、发热要求、导体的端接、直插式设备、电源端子和电信端口的传导骚扰、辐射骚扰场强、静电放电抗扰度、电快速瞬变脉冲群抗扰度、浪涌（冲击）抗扰度等16个项目进行了检验。

抽查发现有2批次产品辐射骚扰场强项目不符合标准的规定。

Supervision Notes 监管摘要2：

集成电路（IC）卡读写机产品质量国家监督抽查结果

2017年第2批，共抽查了北京、天津、上海、江苏、福建、湖北、湖南、广东等8个省、直辖市30家企业生产的30批次集成电路（IC）卡读写机产品。

本次抽查依据GB/T18239-2000《集成电路（IC）卡读写机通用规范》、GB 4943.1-2011《信息技术设备 安全第1部分：通用要求》、GB/T9254-2008《信息技术设备的无线电骚扰限值和测量方法》、GB/T17618-2015《信息技术设备抗扰度限值和测量方法》、GB/T17626.2-2006《电磁兼容试验和测量技术静电放电抗扰度试验》、GB/T17626.4-2008《电磁兼容试验和测量技术电快速瞬变脉冲群抗扰度试验》、GB/T17626.5-2008《电磁兼容试验和测量技术浪涌(冲击)抗扰度试验》等标准的要求，对集成电路（IC）卡读写机产品的相互确认时间、键盘、通信、脱机工作能力、接触电流和保护导体电流、抗电强度、电气绝缘、发热要求、导体的端接、直插式设备、电源端子和电信端口的传导骚扰、辐射骚扰场强、静电放电抗扰度、电快速瞬变脉冲群抗扰度、浪涌（冲击）抗扰度等15个项目进行了检验。

抽查发现有4批次产品不符合标准的规定，涉及到抗电强度、电气绝缘、辐射骚扰场强项目。