国标标准:GB/T 4937.20《半导体器件 机械和气候试验方法 第20部分》

2025-05-10 20:00 113.92.95.146 2次
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GB/T 4937测试,GB/T 4937报告,GB/T 4937检测,GB/T 4937认证,GB/T 4937标准
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标准编号国家标准名称实施日期
GB/T4937.20-2018半导体器件机械和气候试验方法 第20部分:塑封表面安装器件耐潮湿和焊接热综合影响2019/1/1

GB/T 4937的本部分规定了塑封表面安装半导体器件(SMD)的耐焊接热评价方法。该试验为破坏性试验。