环境可靠性测试-温度冲击试验
更新:2024-12-06 08:00 编号:25888305 发布IP:119.136.114.247 浏览:15次- 发布企业
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- 温度冲击试验,三综合测试,环境可靠性测试,冲击测试,可靠性试验
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- 深圳市龙华区民治街道新牛社区工业东路锦湖大厦C栋203室-R02
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详细介绍
1.温度冲击概述
冷热冲击试验箱(也叫温度冲击试验箱)是用来测试材料结构或复合材料,在瞬间下经较高温及较低温的连续环境下所能忍受的程度,藉以在较短时
间内试验其因热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害,确认产品的品质,适用的对象包括电子电器零组
件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、化学材料、塑胶等行业及*工业、*、兵工业、BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁及高分
子材料之物理牲变化。
2.温度冲击试验标准
GB/T2423.22-2012试验N:温度变化
GB-T10592-2008高低温试验箱技术条件
GJB150.3-1986*设备环境试验方法--高温试验
GJB360A-96电子及电气元件试验方法
2.1温度冲击试验的参数
性能指标
温度范围
A:-20C~200°CB:-40℃~200CC:-60℃~200℃
温度误差
±3℃
温度波动
高温室及低温室均±2℃/±0.5℃(恒温时)
样品区承重
10kg
30kg
50kg
60kg
控制系统
控制器
进口LED数显微电脑集成控制器
精度范围
设定精度:温度0.1℃,指示精度:温度0.1℃
制冷系统
德国进口谷轮半封闭水式压缩机组
循环系统
耐温低噪声空调型电机多叶式离心风轮
温度转换时间
≤15s
温度恢复时间
≤5min
温度冲击方法
垂直两箱法/垂直三箱法
3.温度冲击应用范围
3.温度冲击应用范围
高低温冲击试验箱用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、化学材料、塑胶等行业,*工业、**、兵工业、BGA、PCB基
扳、电子芯片IC、半导体陶磁及高分子材料之物理牲变化,测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害,可确
认产品的品质,从精密的IC到重机械的组件,都会用到,是各领域对产品测试的**的一项测试箱。
成立日期 | 2003年07月16日 | ||
法定代表人 | 刘玉杰 | ||
注册资本 | 50 | ||
主营产品 | ROHS,CE,FCC,CB,UL、CCC,可靠性测试与失效分析理化测试等 | ||
经营范围 | 深圳市泰斯汀检测认证技术服务有限公司 | ||
公司简介 | 深圳市泰斯汀检测认证技术服务有限公司业务涵盖ISO体系认证、CCC认证、欧盟CE、ROHS、REACH、美国FCC认证咨询、电子电器产品、电动玩具的安全测试和电磁兼容性测试及无线终端产品的R&TTE指令测试技术咨询服务、环境可靠性、化学检测、能源能效的实验室测试技术分析、电子电器产品的研发和销售^国内外检测认证技术的咨询及代理服务等。本着诚信为本、积极开拓、优质服务的精神和专业、用心、负责 ... |
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