什么是HAST加速老化测试？

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高加速的温度和湿度压力测试（HAST）是一个高度加速，以温度和湿度为基础的电子元件可靠性试验方法。HAST也称为压力测试（PCT）或不饱和压力试验（USPCT）。其目的是评估测试样本，通过将试验室中的水蒸汽压力增加到一定的耐湿性。比试样内部的部分水蒸汽压力高得多。这个过程暂时加速水分渗入样品中

HAST测试标准有哪些？

HAST是加速防潮测试的更加加速版本，与高温/高湿度测试（85C/85%RH）相比，HAST会产生更多成分，接触由于湿气驱动的腐蚀和更多的绝缘劣化。HAST完成了主要用于塑料密封组件。下表显示了常见的表格与HAST相关的测试标准。测试在指定的温度和相对温度下进行湿度或压力。大气通常具有至少100℃的温度，在a水蒸汽加压状态。HAST有时被归类为组合测试压力也被认为是环境参数。有饱和和HAST的不饱和品种。前者通常在121C和的条件下完成RH，后者在110，120或130℃和85%RH的条件下。完成测试电子元件的通电通常是不饱和类型。HAST是一个相当极端的测试，加速因子在几十到几百倍之间，85℃和85%RH的条件。这种极端的加速使得检查非常重要失败模式。

 PCT：高压蒸煮试验Pressure Cook Test (Autoclave Test)

目的：评估IC产品在高温，高湿，高气压条件下对湿度的抵抗能力，加速其失效过程

测试条件：130℃，85%RH, Static bias，15PSIG（2 atm）

失效机制：化学金属腐蚀，封装密封性

参考标准：

JESD22-A102

EIAJED-4701-B123

*HAST与THB的区别在于温度更高，并且考虑到压力因素，实验时间可以缩短，而PCT则不加偏压，但湿度增大。