高加速测试
高加速测试是一种对电子和机械装配件利用快速高、低温变换的荡体系来揭示设计缺略和不足的过程。HALT的目的是在产品开发的早期阶段识别出产品的功能和破坏极限，从而优化产品的可靠性。
适用领域:1、计算机类:电脑、显示屏、主机、电脑元器件、医疗设备等精密仪器等,
2、电子通信类:手机、射频器、电子通信元器件等;
3、电器类:家电、灯具、变电器等各类家电电器设备;
4、其他:包装箱、运输设备等;
依据标准
高温测试:GB/T 2423.2 IEC 60068-2-2
低温测试:GB/T 2423.1 IEC 60068-2-1 EIA-364-59
快速温变测试:GB/T 2423.22IEC60068-2-14
冷热冲击测试:GB/T 2423.22IEC60068-2-14 EIA-364-32恒温恒湿测试:GB/T 2423.3IEC 60068-2-78 MIL-STD-202
温度变化测试:GB/T 2423.22 IEC60068-2-14
交变湿热:GB/T 2423.4 IEC60068-2-30温湿度组合循环测试:GB/T2423.34IEC60068-2-38 MIL-STD-202TB/T2054-2017机车淋雨试验方法
