HAST试验，全称为高加速温湿度应力测试（Highly Accelerated Stress Test - TemperatureandHumidity），是一种用来评估产品在高温、高湿以及高压条件下的可靠性和寿命的测试方法。以下是关于HAST试验的详细解释：
1.定义：HAST试验是一种模拟产品在高温高湿环境下的使用条件，快速加速产品老化过程的试验方法。它也被称为高温高湿固态加速老化试验或压力锅测试（PCT）以及不饱和压力锅测试（USPCT）。
2.测试目的：评估测试样品的耐湿性，通过增加测试室中的水蒸气压力来加速水分渗入样品中。主要用于塑料密封组件，如PCB、IC半导体、连接器、线路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏组件等行业。
3.测试条件：温度：一般为110°C至130°C，大气通常具有至少100°C的温度。湿度：相对湿度通常超过85%，有时在相对湿度条件下进行测试。压力：当压力也被视为环境参数时，HAST有时被归类为组合测试。
4. 测试类型：HAST有饱和和不饱和两种类型。饱和类型通常在121°C和RH的条件下进行，而不饱和类型通常在110、120或130°C和85% RH的条件下进行。
5. 测试优势：相对于传统的高温高湿测试（如85°C /85％RH），HAST增加了容器内的压力，能够加速温湿度的老化效果（如迁移、腐蚀、绝缘劣化、材料老化等）。大大缩短可靠性评估的测试周期，节约时间成本。
6. 测试标准：在进行HAST试验时，需要遵循一定的测试标准，如GB/T 2423.40、IEC60068-2:66、JESD22-A110D、AEC Q101、JIS C0096-2等。
7. 测试控制方法：HAST控制方法有干湿球温度控制、不饱和控制和润湿饱和控制。
HAST试验是一种高加速电子元器件可靠性测试方法，通过模拟产品在极端环境下的性能表现，来评估其可靠性和寿命。这种测试方法广泛应用于多个行业，特别是在需要评估产品密封性、吸湿性及老化性能的领域。
HAST高加速寿命试验箱
设备特点
标准设计更安全：内胆采用圆弧设计防止结露滴水，符合国家安全容器规范；
多重保护功能：各种超压超温、干烧漏电及误操作等多重人机保护；
稳定性更高：内置自研PID控制算法，确保温度、湿度以及压力值准确度。
湿度自由选择：饱和与非饱和自由设定；
智能化高：支持电脑连接，利用usb数据、曲线导出保存