试验方法
- 高温试验
- 试验条件：根据产品要求选择合适的温度等级，如(55±2)℃、(70±2)℃、(85±2)℃等，试验时间通常为2小时。
- 试验过程：将电子产品放入高温试验箱中，按照设定的温度和时间进行试验。在试验过程的末尾0.5小时，进行样品的基本功能测试。试验结束后，将样品在箱体内恢复至稳定状态或放置在常温常湿环境下进行恢复，并测试受试样品的基本功能。
- 低温试验
- 试验条件：根据产品要求选择合适的温度等级，如(-10±3)℃、(-25±3)℃、(-40±3)℃等，试验时间通常为2小时（低温工作试验）或更长（如低温贮存试验）。
- 试验过程：将电子产品放入低温试验箱中，按照设定的温度和时间进行试验。在试验过程的末尾半小时，进行样品的基本功能测试（在试验温度下允许LCD显示看不清）。试验结束后，同样进行恢复和测试。