微跌落试验方法介绍

微跌落试验

使用双工位微跌落试验可以对微小电子产品进行部分可靠性功能测试，微跌落试验采用气动治具夹持测试产品，电机驱动上升到设定的跌落高度，模拟产品往复跌落测试。

 适用范围

微跌落试验适用于手机、POS机、平板电脑、蓝牙音箱、电话机听筒、对讲机、U盘、学习机等小型电子消费类产品的能够满足样品棱、角、面的跌落测试，可实现自动手动功能。

 试验原理

先把产品如手机放入到跌落夹具内，调整好合适的大小位置，步进电机带动真空吸盘将手机吸住，上升后松开吸盘，手机成自由跌落运动，如此反复直至设定次数。

 测试方式

定向跌落、自由跌落、重复跌落、滚筒跌落四种跌落方式。

试验产品如手机，样品机插SIM 卡，并装配电池，手机处于正常工作状态。将样品放置在垂直跌落试验仪上，将高度调到 1.0m，进行垂直跌落测试。每个面各测 2 次，共跌落12次。跌落测试后，对样品进行外观、功能，结构检测，记录测试状态后，再进行拆机检测。

试验样机插SIM 卡，并装配电池，手机处于正常工作状态。 将样品放置在 0.5m 的滚筒跌落试验机中，进行跌落测试，每 50次对手机的外观，功能，结构做检测，累计跌落300 次循环。 测试完成后，对手机进行功能，结构，装配检测（要求必须拆机检查）。