寿命试验（MTBF）方法分为定时截尾试验，定数截尾试验，估算方法为：平均寿命的点估计值、单侧置信下限估计、双侧区间估计。高温工作寿命试验高温寿命试验为利用温度及电压加速的方法，藉短时间的实验来评估IC产品的长时间操作寿命。
MTBF寿命测试
一般常见的寿命实验方法有
BI（Burn-in）/EFR（Early FailureRate）
HTOL（High Temperature OperatingLife）
TDDB（Time dependent DielectricBreakdown
对于不同的产品类别也有相对应的测试方法及条件，如
HTGB（High Temperature GateBias）
HTRG（High Temperature ReverseBias）
BLT（Bias Life Test）
Intermittent OperationLife等。
低温工作寿命试验低温操作寿命试验为利用低温及电压加速的方法，评估该组件于低温环境操作下的寿命。温度工作寿命检测能力GJB899-2009
1.可靠性的定义在我们考虑可靠性预计之前，让我们来看看可靠性的定义。普遍被接受的可靠性的定义是产品在其指定应用环境条件下和在规定时间内正常工作的概率。
这就涉及到两个判断问题：
