1.2米跌落测试报告

1.2米跌落测试报告

跌落测试是一种用于评估产品在意外跌落情况下性能的测试方法。这种测试通常用于评估产品的抗冲击性能和稳定性。在产品设计、生产和质量控制方面，跌落测试都具有重要意义。通过人工模拟产品在使用、储存、运输或装配过程中可能受到的各种外界机械应力，来验证产品对机械环境的适应能力。这种测试可以帮助制造商评估产品在实际使用过程中的耐用性，并确保产品在不同环境下的安全性和可靠性。通过跌落测试，制造商可以识别产品设计中的弱点，并采取措施加以改进，从而提高产品的质量和用户体验。

一、跌落试验方法：

　　1、自由跌落

　　目的：确定产品在搬运期间由于粗率装卸遭到跌落的适应性，或确定安全要求用的*低牢固等级。本试验主要用于非包装的试验样品，以及在运输箱中其包装可以作为样品一部分的试验样品。

　　2、重复自由跌落

　　目的：确定可能频繁跌落到硬表面的接有电缆的元件型装置，例如连接器和小型遥控装置，经受重复跌落的适应性。

二、试验条件：

试验表面：试验表面应该是混凝图或钢制成的平滑，坚硬的刚性表面.必要时，有关规范可以规定其他表面。

跌落高度：是指试验样品在跌落前悬挂着的时候，试验表面与离它近的样品部位之间的高度.

释放方法：释放试验样品的方法应使试验样品从悬挂着的位置自由跌落.释放时，要使干扰小.

跌落的高度：25mm，50mm，100mm，250mm，500mm，1000mm.

三、电子产品跌落测试标准，自由跌落试验的检测标准如下：

电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Ed：自由跌落GB/T2423.8-1995/IEC：1990

包装运输包装件跌落试验方法GB/T4857.5-1992/ISO2248：1985

包装运输包装件编制性能试验大纲的定量数据GB/T4857.18-1992/IS04180-2：1980

星用通信设备通用规范GJB367A-2001

星用计算机通用规范GJB322A-1998

星用电子测试设备通用规范GJB3947A-2009

电子测量仪器通用规范GB/T6587-2012

针对跌落实验国家有专门的标准，跌落方式都是一角、三边、六面之自由落体，跌落的高度是根据产品重量而定。分2250px、1900px、1625px几个等级。

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