一、检测原理
纳米级尺寸检测主要基于光学、电子学以及机械学等原理进行工作。这些原理的应用使得检测仪器能够捕捉到纳米级别物质的微小尺寸变化，从而实现对物质尺寸的jingque测量。
二、检测方法
透射电子显微镜（TEM）：
原理：利用电子束穿透样品，通过电子与样品中原子的相互作用形成图像。
应用：适用于观察纳米颗粒的形貌、尺寸和分布，以及分析材料的微观结构。
扫描电子显微镜（SEM）：
原理：利用聚焦电子束扫描样品表面，收集二次电子或背散射电子等信号形成图像。
应用：适用于观察样品表面的微观形貌和尺寸，以及进行元素分析。
动态光散射（DLS）：
原理：利用激光照射样品，通过测量散射光的强度波动来分析颗粒的尺寸分布。
应用：适用于溶液中纳米颗粒的尺寸分析，以及颗粒的聚集和分散状态研究。
原子力显微镜（AFM）：
原理：利用探针与样品表面原子间的相互作用力来测量样品表面的形貌和尺寸。
应用：适用于观察纳米级表面的微观形貌和尺寸，以及测量薄膜的厚度和粗糙度。
其他方法：
如低角X射线衍射（SAXS）、纳米颗粒计数器、粒度仪等，这些方法也各有特点，适用于不同类型的纳米颗粒样品。