HALT（高加速寿命试验）
HALT是一种通过施加步进应力（如温度、振动等）来快速激发产品潜在缺陷的测试方法。它主要在产品研发阶段进行，目的是找出产品设计和制造过程中的薄弱环节，以便在产品量产之前对其进行改进，从而提高产品的固有可靠性。例如，在电子产品的研发中，通过HALT 测试可以发现电路板在极端温度变化下的焊点开裂问题或者在高振动强度下元件引脚松动的情况，为设计改进提供依据。
HALT
采用步进应力的方式。通常从较低的应力水平开始，逐步增加应力的强度，如在温度应力测试中，先以一定的速率降低或升高温度，观察产品在每个温度点的性能变化，直到产品出现故障或者达到测试设备的极限。对于振动应力也是如此，从较低的振动强度开始，逐渐增加，直至产品失效。这种方式可以地确定产品的极限工作条件和破坏极限。
HALT
主要应用于产品的研发阶段，在产品设计定型之前进行。通常只需要少量的产品样本，因为它的重点是发现设计和工艺的潜在问题，为产品的改进提供依据。例如，对于一款新型的智能手机，可能只需要5 - 10 部手机进行 HALT测试，通过这些样本找出设计缺陷，如电池与主板的连接方式在振动下是否稳定，或者散热结构在高温环境下是否有效等问题。
HALT
HALT 测试的结果主要用于改进产品的设计和制造工艺。如果在 HALT测试中发现产品在某个温度或振动条件下出现故障，研发团队会对产品进行重新设计或对制造工艺进行调整。例如，发现产品在低温环境下电池续航能力大幅下降，可能会对电池管理系统进行优化，或者更换更适合低温环境的电池材料。这些改进措施会体现在产品的下一个设计版本或者后续的生产批次中。
