材料表面成分分析，元素价态，深度剖析

 X射线光电子能谱仪(XPS)+饿歇电子能谱仪(AES)

XPS利用光电效应的原理，测量X射线激发出的光电子能量和计数，对样品表面几个纳米深度的范围内进行半定量的成分和化学态分析；AES利用电子激发出的俄歇电子，对表面进行微区的成分和化学态分析。

测试范围：

除H和He之外的所有元素

分析深度约5nm(AES约3nm)

检测下限约0.1%

空间分辨率约30μm(AES约10nm)

服务项目：

各种固体表面的元素成分

化学价态

分子结构分析

深度剖析

深圳市启威测标准技术服务有限公司提供的专业、高效、实惠的分析测试服务可以帮助客户节省昂贵仪器费用，管控产品质量，分析产品配方及加速产品研发。

热分析：DSC、TGA、DSC-TGA、TMA、DMA、旋转流变仪

色谱分析：GPC、GC、 GC-MS、LC、LC-MS

光谱分析：ICP、XRF、FTIR、XRD

核磁分析NMR：1H、13C、29Si 、31P、17O谱

质谱分析: 高分辨率、低分辨率质谱

粒度分析：马尔文激光粒度仪、 BET比表面积测试仪

电镜分析：SEM、TEM、AFM;